温度冲击试验箱详细资料
一、用途
温度冲击试箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具.
二、特点
1.产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采独特之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物完全静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.
2.采用采用*先进的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转，*大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行；
3.箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。
4.具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，完全有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.先进科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角;完备的**保护装置，避免了任何可能发生**隐患，保证设备的长期可靠性
5.可设定循环次数及除霜次数自动（手动） 除霜. 出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10秒内完成，冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。
6.冷冻系统采用复迭高效低温回路系统设计，冷冻机组采用欧美原装进口压缩机，并采用对臭氧系数为零的绿色环保（HFC）制冷剂R507，R23.超强**保护功能：电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、超温保护、报警声讯提示等。
三： 温度冲击试验箱主要技术指标
1、工作室尺寸：测试区 ：400mm×360×350（D×W×H）外箱尺寸：1380×1950×1080（D×W×H）
2、温度范围： 高温箱＋60℃～200℃ 低温箱－40～－10℃
3、温度波动度：±0.5℃
4、温度误差：≤±3℃
5、升温速率：30℃～＋150℃ ≤30min
6、降温速率：＋30℃～－55℃ ≤75min
以上指标均在常压、空载条件情况下测试。
7、样品转换时间：≯15ｓ
8、温度恢复时间.
9、＋150℃～－40℃温度冲击恢复时间，≤5min
试验状态：预冷温度：－55℃
10、－40℃～＋150℃温度冲击恢复时间，≤5min
试验状态：预热温度：180℃
温度冲击恢复时间以传感器测试位置为准
11、电 源：380V、50HZ；三相五线制.
12、功 率：约45KW.
13、传感器位置：出风口；
四：满足的试验方法
1、GB2423.1－89 试验A低温试验方法
2、GB2423.2－89 试验B高温试验方法
3、GB2423.22－89 试验N温度变化试验方法
4、GJB150.3-86 高温试验
5、GJB150.4－86 低温试验方法
6、GJB150.5－86 温度冲击试验
7、产品执行标准
8、GB10589－89 低温试验箱技术条件
9、GB11158－89 高温试验箱技术条件
10、GB10592-89 高、低温试验箱技术条件
11、配件技术资料及附件
12、技术资料：产品合格证、使用说明书、电气原理图、保修卡、外购件合格证及外购件使用说明书等
13、附件：易损件一套。
本公司从事恒温恒湿试验箱、温度冲击试验箱、高低温试验箱等产品研发设计制作经历十年历程，制作工艺技术技术已凌驾于进口同类产品，品质精良、价格低廉，欢迎广大新老客户电话咨询。也可按客户的要求制造非标准产品。 免费送货上门，并安装调试操作介绍（直到需方员工独立操作并满意为止）
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