IC参数测试仪

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东莞市广开仪器设备有限公司
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	数位IC测试仪 GUT-6000A	数位IC测试仪特性：Loop 测试自动搜寻 IC 编号功能开机自我侦测诊断功能过载保护功能可量测之 IC 种类超过 1800 种54/74 系列 TTL 及高速 CMOS4000 及 4500 系列 CMOS*大可测 Pin 数 : 28 Pin

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