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产品资料

数位IC测试仪

数位IC测试仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话，可以
  • 产品名称：数位IC测试仪
  • 产品型号：GUT-6000A
  • 产品展商：台湾固纬
  • 产品文档：无相关文档
简单介绍
数位IC测试仪特性：Loop 测试自动搜寻 IC 编号功能开机自我侦测诊断功能过载保护功能可量测之 IC 种类超过 1800 种54/74 系列 TTL 及高速 CMOS4000 及 4500 系列 CMOS*大可测 Pin 数 : 28 Pin
产品描述

数位IC测试仪
数位IC测试仪特性：
Loop 测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可量测之 IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
*大可测 Pin 数 : 28 Pin

数位IC测试仪规                  格

 
测试范围
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
55 及 75 系列 TTL
 
量测种类
约 1800 种
 
测试电压
5V DC
 
测试时间
高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC
 
使用电源
交流 110V/220V +10%, 50/60Hz
 
附件
电源线 x 1, 操作手册 x 1
 
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm, 约 1.5 公斤

 

固纬IC测试仪选型表

机    种  

 
主要功能或用途
GUT - 6000A
数位IC测试器
GUT - 6600
掌上型数位IC测试器
GUT - 6001
类比IC测试器

 

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