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产品资料

AJ纳米颗粒显微镜形貌图处理及分析软件系统

AJ纳米颗粒显微镜形貌图处理及分析软件系统
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:AJ纳米颗粒显微镜形貌图处理及分析软件系统
  • 产品型号:V1.0
  • 产品展商:其他品牌
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
AJ纳米颗粒显微镜形貌图处理及分析软件系统(简称纳米颗粒软件)是对爱建纳米扫描探针显微镜所产生的扫描图像进行离线处理和分析的工具。它们运行于WINDOWS 2000(或XP)操作系统,引入了“等效颗粒直径”的概念。软件系统用VC﹢﹢6.0 MFC方式实现。 本软件系统参照了美国ASME和ASTM关于表面测量的标准。根据美国ASME和ASTM关于表面测量的标准,结合显微镜所获得的图像数据的
产品描述

功能列表:
1)软件系统内容清单:视图部分
01-顶视图    02-三维视图    03-游览   04-多重视图

2)软件系统内容清单:分析部分
05—剖面分析  06—阶梯分析  07-深度分析  08-Bearing分析 09-颗粒分析
10-粗糙度分析11—宽度分析  12-自相关分析 13-功率谱分析  14—功率谱比较
15—Bearing比较

3)软件系统内容清单:变换部分
16—图像平整(Flatten)17—低通滤波     18—高通滤波    19—**噪声线
20—图像缩放(Zoom) 21—图像缩放(Resize)22—选择区域截取23—图像相减
24—图像反转          25—图像旋转   26—平面拟合(Plane Fit)A27—边缘增强
27(b)—边缘检测:这主要是为颗粒显微镜分离颗粒准备的  28—二维功率谱
29—高斯滤波               30—中值滤波A31—卷积

4)辅助性工具
32—设置颜色   33—屏幕输出到文件, 到打印机打印输出

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