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FTDZS-I-粉末電阻率測試儀(四探針法)
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產品簡單介紹
四探針薄膜電阻測試儀器
FTDZS-I
該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準,并參考美國 ASTM 標準而設計的,專用于測試半導體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。 儀器由主機、測試臺、四探針探頭、計算機等部分組成,測量數據既可由主機直接顯示,亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析,然后以表格,圖形方式統計分析顯示測試結果。
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