MarSurf XR20表面粗糙度仪 是Mahr公司**表面形貌特征测量系统的入门级产品。此设备以个人计算机作为基础,提供的所有通用参数和曲线图形都符合国际标准 。
MarSurf XR20表面粗糙度仪测量/评定: 基于Windows操作系统的MarSurf XR 20软件具有德语、英语、法语、意大利语以及西班牙语等多种语言。
MarSurf XR20表面粗糙度仪参数和轮廓: 超过65个R-轮廓、P轮廓、W轮廓和motifs参数,带公差监测和统计功能。参数列表和特征曲线。
MarSurf XR20表面粗糙度仪轮廓分辨率: 取决于传感器型号,为± 25 µm测量范围内,*小分辨率可达76 nm。
MarSurf XR20表面粗糙度仪测量范围: ± 25 µm到± 2500 µm,取决于所用传感器类型。
MarSurf XR20表面粗糙度仪采样长度个数N: 1个到5个,或1个到Nmax个在N x Lc模式中,Nmax=驱动单元的*大测量长度/Lc滤波设定)
MarSurf XR20表面粗糙度仪滤波器类型: GS / 2RC / SF ISO 13565-1 /外形翻转NEG/ARC-(弧形消除) -支持选择其他特别的过滤器
MarSurf XR20表面粗糙度仪取样长度 Lc: 可自由设定Lc,*大25 mm ,Lc = f(lt);0.025 mm / 0.08 mm / 0.25 mm / 0.8 mm / 2.5 mm / 8 mm以及短截止波长Lc, 默认取样长度值符合ISO 4288规定,取样长度取决于Lt和dx。
MarSurf XR20表面粗糙度仪驱动单元 PZK, GD 25, PGK 20, PGK 120, PRK (通过PAV 62)