菲希尔xulm240型X射线测厚仪技术规格

菲希尔xulm240型X射线测厚仪技术规格

FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240是一款性能卓-越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。由先前的XULM-xym换代而来。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控，来料检验及生产过程控制中测量使用。

典型应用领域比如：

1、对十分微小零部件、接插件和线材的镀层测量

2、印刷电路板上进行手动测量

3、对珠宝和手表业中需求的测量

Fischer xulm 240 X射线荧光镀层测厚仪的比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。如同所有的Fischerscope x-ray仪器一样，本款仪器有着出色的精-确性以及长期的稳定性，这样显著减少了校准仪器所需要的时间和精力。依靠菲希尔Fischer公司的完全基本参数法，可以在没有校验标准片校正的情况下分析固态和液态的成分以及测量样品的镀层厚度。Fischer xulm 240x射线镀层测厚仪配备了微聚焦x射线管以及可电动切换的视准器和基本滤片，因此更适合对微小型工件进行测量。

X射线镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM 240基本技术规格：

1、单性金属镀层厚度测量。

2、合金镀层厚度测量。

3、双镀层厚度测量。

4、双镀层（其中一层是合金）厚度测量。

5、三镀层厚度测量。

6、测量小区域：*小的测量点大小约0.09x0.09 mm。

6、测量厚度精度：当Au厚度大于0.1μm时，有标准片校准情况下<±5%,无标准片校准情况下<±10%。

测量厚度精度=（测试10次的平均值-真值）÷真值×（真值为校验标准片证书显示值，测试点为同一点）

仪器波动率：COV＜5% 。

COV=（S/10次平均值）×（其中S为标准偏差）

标准偏差S==

8、其他功能：用X-RAY测厚仪能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析。

9、用X-RAY测厚仪可同时测定*多5种不同元素。

10、测定元素种类范围：X-RAY测厚仪可测定原子序数从17-92的元素（元素

含量要求达到1%以上）。

11、量软件及使用计算机

X-RAY测厚仪配置软件：Win FTM。

计算机配置：HP品牌机，500G硬盘，8G内存，24”液晶显示器（HP品牌）。

统计功能：具备统计及SPC功能。输入统计参数，便可制作比例图，累积

率图并分别显示镀层厚度及含量等资料。

打印功能：只要接上打印机，就能将报告打印输出。菲希尔xulm240型x射线测厚仪技术规格如上，更多技术支持随时联系我们。