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苏州圣光仪器有限公司
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X射线测厚仪/光谱仪
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产品名称/型号
产品简单介绍
无核密度检测仪
LA-4114型
无核密度检测仪/土壤无核密度仪/无核密湿度仪/无核仪LA-4114型英文俗称EDG,是一种可替代核子密度仪,测量路基和地基压实土壤之物理特性的无核测量仪。无核密度检测仪EDG可测量并显示干/湿密度、含水量,以及压实百分数。EDG使用简便,可以作为建筑用辅助设备来监控每日的压实操作,其上等的工作性能和准确的测量结果可以与传统测量法,如核子密度测量法,灌砂法,以及干燥法相媲美。
费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237
费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪/x-ray厚度测试仪/射线镀层厚度检测仪FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237是一款应用广泛的能量色散型射线荧光材料分析及镀层测厚仪。它尤其适合在自动化测量应用中无损测量超薄镀层厚度和分析材料。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237费希尔x射线荧光光谱镀层材料分析仪配备可编程运行XY轴工作台及Z轴升降系统,全自动测量超薄镀层厚度和分析材料成分。
菲希尔x射线荧光镀层厚度及ROSH检测仪
FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ® -SDD
菲希尔x射线荧光镀层厚度及ROSH检测仪/X-RAY射线光谱测厚仪/X射线分析仪FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD是FISCHER产品中性能zui强大的X射线荧光仪器之一。菲希尔x射线荧光镀层厚度及ROSH检测仪XDV-SDD配备了特别加大的硅漂移探测器(SDD)。50mm²的探测器窗口确保能快速而精-确地测量甚是小面积的测量点。此外,XDV-SDD仪器还配备了各种不同的滤波片,从而能为不同的测量任务建立*优化的激发条件。XDV-SDD可以测量含量低于1000ppm的如汞、铅等有害金属元素。
手持式XRF荧光光谱仪
X-MET8000S
手持式XRF荧光光谱仪/手持式合金成分分析仪/元素含量检测仪X-MET8000S由Oxford Instruments下属的工业产品分公司研究、设计和制造,世界500强日立公司于2017年7月收购了牛津仪器工业分析部门,牛津手持光谱仪品牌正式更名为日立仪器HITACHI。手持式XRF荧光光谱仪X-MET8000S型是一款为客户量身定做的X射线的荧光光谱仪。它集速度,准确,坚固和易用为一体,加上硬件,软件的多年行业经验,满足你对检测的所有要求。
菲希尔x-ray荧光光谱仪
FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230
菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230是德国菲希尔fischer公司XDL系列机型中性价比*高的一款,相比XDL-210*主要的优势在于X轴和Y轴方向可以手动调节,大大方便了测量的便捷性。菲希尔x-ray荧光光谱仪XDL-230还可以通过可编程XY工作台与Z轴(可选)实现自动化的批量测试。XDL-230菲希尔x-ray荧光光谱仪以优异的性能被选为国内各省电科院/国家电网技能比武指定使用机型。
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪
FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪/X射线测厚仪/荧光膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量分析极薄镀层和超小含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的合适的测量仪器。
X-RAY荧光测厚仪
X-RAY XULM
X-RAY荧光测厚仪、X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量,同时也适于进行元素分析。 X-RAY荧光测厚仪|x射线测厚仪|x荧光光谱仪|荧光光谱分析可以对几乎任意尺寸和状态的工件进行分析。粉末和糊状材料可以和固体或液体一样进行分析。
X射线测厚仪
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210
X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。
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