电科院技能比武大赛指定荧光光谱仪技术规格

名称

单位

参数

X射线发射装置

kV

X射线源为带铍窗口的钨管。三种高压： 30 ，40 ，50 ，可切换

探测器

比例接收器

X-RAY测量系统

1       功能满足表面镀层厚度测试、5种元素含量分析

2       元素测量范围：Cl(17)到U(92)之间的元素；(顶层)

3       可以对合金含量无损定量分析；

*4     无损测量镀层时不受底材影响；

*5     可以进行无标准片测量，内部设定12纯元素频谱库

*6     无标准片可以建立测量程式，当公司产品有新的镀种需测量时，可以添加新的测量程式，且厂家可免费提供此项服务

*7     仪器有”mq”值显示

*8     可以测量凹陷0—80mm的工件

*9     X射线源为带铍窗口的钨管。三种高压：30 kV，40 kV，50 kV，可切换；

10     顶层厚度>0.5μm，经标准片校正后，测量精度≤5%；无标准片校正，测量精度≤10%。

*11   分析电镀液内金属 离子浓度（需选配电镀液分析附件）。

*12   测量方向：由上往下，非接触式测量；

13     视频显微镜，高分辨CCD彩色摄像头，用于查看测量位置，手动调焦： 十字线刻度和测量点大小经过校准测量区域照明亮度可调。

14     放大倍数范围少：40x～160x (光学变焦: 40x； 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

X-Y-Z轴紫铜

1       样品工作台：可手动调节的X/Y轴平台，便于放置超大超长的样品。可用样品放置区域不小于：长420mm x 宽450mm；X/Y平台大移动范围不小于95×150mm

2       Z轴马达驱动，大移动范围140mm，配备有激光定位点。

准直器

mm

圆形φ0.3

系统软件

1       WinFTM Light 软件

2       设备配备中文友好操作界面，满足镀层厚度测试、元素分析应用；

3       软件具备统计过程控制（SPC）功能；

标准片

校验标准块套件 Ag/Ni

统计功能

具备统计及SPC功能。输入统计参数，便可制作比例图，累积或然率图并分别显示镀层厚度及含量等资料

辐射**

*环保厅辐射豁免函

操作语言

英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，
及中文

使用环境

℃

使用时温度10– 40

存储或运输时温度0– 50

空气相对湿度≤ 95 %，无结露

资质要求及标准

DIN ISO 3497和ASTM B 568 X射线标准

质保期

一年

仪器重量

kg

107