尼克斯分体式膜厚仪 QNix®4500

简单介绍

尼克斯分体式膜厚仪QNix®4500是在传统QNix4500基础上，为了满足客户不同的需要，特推出QNix®4500（分体式）机，探头和主机之间通过一根探头线连接起来，可以满足特定测量环境（比如狭小空间）的需要，尼克斯分体式膜厚仪测量更方便，使用更人性化，性价比更高

产品描述

尼克斯分体式膜厚仪QNix®4500包括了常规QNix4500机型的所有功能，分体式设计为用户不同的测量环境提供多种选择、此外尼克斯分体式膜厚仪QNix®4500系列还推出QNix® 4500（大量程）机，使在铁基测量模式下量程可扩大到5mm。

尼克斯分体式膜厚仪QNix®4500概述：

简单快速测量

不需要校准
自动开关机
大量程FE:0-5000um NFE:0-3000um
双用探头，性价比高
霍尔传感器让测量更稳定
测量时声音同步

红宝石耐磨头，寿命长

背光LED显示，读数更加清晰
自动识别测量基体
只需调零，无需校准
体积小巧，操作方便
一机双用，自动识别基体
精度高
分体式探头，满足不同的测量环境

尼克斯分体式膜厚仪QNix®4500技术参数：

磁性基体(Fe模式)	QNix4200/4500均有此功能
非磁性基体(NFe模式)	QNix4500有此功能
尼克斯分体式膜厚仪QNix®4500测量范围	QN4200：Fe:0-3000um
尼克斯分体式膜厚仪QNix®4500测量范围	QNIX4500：Fe：0-3000um；NFe：0-3000um QNIX4500(5mm型）：Fe:0-5000um；NFe:0-3000um QNIX4500（分体型）：Fe:0-3000um；NFe:0-3000um
显示精度	0.1um
精度	0-50um:≤±1um
	50-1000um:≤±1.5%读数
	1000-3000um≤±3%读数
小接触面	10×10mm/QNix4500
小曲率半径	凸面：3mm；凹面：25mm
小基体厚度	Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
温度补偿范围	0-60℃
显示	LCD液晶(带背光)
探头	红宝石固定式
电源	2×1.5V干电池
尺寸	100×60×27mm
重量	110g

其他测试仪器：超声波探伤仪、涂镀层测试仪、x射线测厚仪、铁素体测定仪报价请联系我们。

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