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产品资料

新型SIDSP技术涂层测厚仪

新型SIDSP技术涂层测厚仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:新型SIDSP技术涂层测厚仪
  • 产品型号:MINITEST 720/730/740
  • 产品展商:德国EPK ElektroPhysik
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740涂层测厚探头是采用SIDSP技术的智能数字化测试设备,数字信号处理取代模拟信号处理时代,新型SIDSP技术涂层测厚仪将成为未来涂层膜厚仪的发展趋势。
产品描述

新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740特点概述: 

SIDSP使测量不受干扰,测值更加
可更换探头使用更加灵活(MINITEST 740探头可由内置换为外置)
FN
探头自动识别基体,使测量更迅速,避免操作错误
温度补偿功能避免温度变化引起的错误
生产过程中50点校准使仪器获得高度的特征曲线
大存储量,能存储10100组多达100,000个读数
读数和统计值能单独调出
超大,背光显示屏,显示内容可180度旋转
菜单指引操作,25种语言可选
IrDA接口,红外线传输数据到打印机和PC
可下载更新软件

 

新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740之SIDSP技术解析:

SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,世界的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的**奠定了新标准。SIDSP即探头内部数字信号处理,这项技术使探头在测量时,同时在探头内部将信号完全处理为数字形式。SIDSP探头完全依据世界技术生产。

新型SIDSP技术涂层测厚仪工作原理如下:
跟传统技术不同,SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号,回传的信号经过32位数字转换和处理,带给您的涂层厚度值。此项的数字处理技术,同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面,如数字滤波器,基带转换,平均值,随机分析,等等。此项技术能获得与模拟信号处理无可比拟的信号质量和度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。SIDSP探头与普通模拟探头相比,具有决定性的优势,为涂层测厚设定了一个新的标准。

 

新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740优势介绍:

1、MINITEST 720/730/740涂层测厚仪增加了测量速度设置选项

MINITEST 700可以让您轻松变换测量需求。在对精度要求不高的条件下,您可以短时间测量大量数值;也可以只测量少数几个数值,但要求精度很高,您只需选择相应的模式就可以做到。测量值超过您所设定的极限值时,仪器会报警,保证您即使在快速模式下也不会错过任何信息。仪器具备声、光报警,在极限范围内用绿色LED灯表示,超过极限值则用红色LED灯提示。

2、MINITEST 720/730/740涂层测厚仪使用简单方便
MINITEST 700
按照人体工学设计,外形很适合人手掌握。为了质量控制和检验的灵活性,MINITEST 740可以轻易由内置探头变换为外置探头,方便测量难以到达的部位。MINITEST 700系列可以满足您所有涂层测量需求:如果您想单手测量,可以选择内置探头的720730则是外置探头的。所有型号都配有一个超大、背光的显示屏,显示内容可以180度旋转,方便您读取数据。

3、预设选项节省您的时间和**
所有MINITEST 700探头都可以对不规则形状表面做出补偿。当您在无涂层基体上校零时,整个量程范围都在这个特定的形状和材料基础上进行校准。为节省您的时间和**,仪器预设了大量校准方法,适用于各种表面情况和精度要求。您可选择出厂校准,零点校准,2点校准和3点校准。另外,还有针对不同粗糙程度的粗糙度校准。FN探头自动识别基体类型避免操作者犯错。

4、新的MINITEST 700产品线,加强了EPK在全球涂层测厚市场的领导地位

有了新的SIDSP F型探头(测量铁基体)和N型探头(测量非铁基体),您可享受到高度和高重现性带给您的优势和便利。新的MINITEST 700可以解决您所有涂层厚度问题,而产品上等的外观是您长期价值和成功的关键,比如汽车、造船、钢铁、桥梁建筑,或电镀等行业。

 

新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740技术规格:

1、测厚仪主机 


型号
特性

MINITEST 720

MINITEST 730

MINITEST 740

探头类型

内置

外置

内置外置可换

数据记忆组数

10

10

100

存储数据量

10,000

10,000

100,000

统计值

读值个数,小值,大值,平均值,标准方差,变异系数,组统计值(标准设置/自由配置)

校准程序符合标准和规范

ISOSSPC,瑞典标准,澳大利亚标准

校准模式

出厂设置校准,零点校准,2点校准,3点校准,使用者可调节补偿值

极限值监控

声、光报警提示超过极限

测量单位

ummmcmmilsinchthou

操作温度

-10-60

存放温度

-20-70

数据接口

IrDA 1.0(红外接口)

电源

2AA电池

标准

DIN EN ISO 14612064217823602808388219840
ASTM B244
B499D7091E376
AS 3894.3
SS 1841 60SSPC-PA 2

体积

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

175g

210g

175g(内置)/230g(外置)

2、SIDSP探头


探头
特性

F1.5N0.7FN1.5

F2

F5N2.5FN5

F15

F

N

F

F

N

F

测量范围

0-1.5mm

0-0.7mm

0-2mm

0-5mm

0-2.5mm

0-15mm

使用范围

小工件,薄涂层,跟测量支架一起使用

粗糙表面

标准探头,使用广泛

厚涂层

测量原理

磁感应

电涡流

磁感应

磁感应

电涡流

磁感应

信号处理

探头内部32位信号处理(SIDSP

±1μm+0.75%读值)

±1.5μm+0.75%读值)

±5μm+0.75%读值)

重复性

±0.5μm+0.5%读值)

±0.8μm+0.5%读值)

±2.5μm+0.5%读值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

小曲率半径(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

小曲率半径(凹,外置探头)

7.5mm

10mm

25mm

小曲率半径(凹,内置探头)

30mm

30mm

30mm

小测量面积

Φ5mm

Φ10mm

Φ25mm

小基体厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

连续模式下测量速度

每秒20个读数

单值模式下大测量速度

每分钟70个读数

 

新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740 

1、标准配置:
带塑料手提箱,内含:
MINITEST 720(
内置探头)
MINITEST 730(外置探头)
MINITEST740主机(不含探头,有各种探头可选)
校准套装含校准片和零板
操作使用说明CD,德语、英语、法语、西班牙语
2
AA电池
2、推荐配件:

F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架

新型SIDSP技术涂层测厚仪/膜厚测试仪/涂膜厚度检测仪/镀层测厚仪MINITEST 720/730/740遵守标准如下:

标准:SSPC-PA2ISO,瑞典(SS184160),澳大利亚(AS 3894.3),ISO 19840ASTM D7091(以前的D1186D1400)。

其他测试仪器:苏州圣光铁素体测试仪SP10a、瑞典蓝宝紫外线灯PS135.

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