XDVM-P X-RAY测厚仪

XDVM-P X-RAY测厚仪

FISCHERSCOPE® XDVM®-P是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。

它杰出的特性包括：2组可切换的各带4个视准器的视准器组，大的开槽的测量箱体确保工件放置简便，的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。

这个特性使得该系统非常适合于测量大批量生产的部件，例如螺丝，连接器插针或大的线路板。按动按钮就可根据预设的测试点定位进行自动测量，并可自动的进行评估报告输出。

HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的处理和使用了新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。

的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM® V.6软件）

典型的应用范围如下：

单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。

三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。

双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

多24种镀层（使用WinFTM® V.6软件）。

分析多达4种（或24种－使用V.6软件）元素。

分析电镀溶液中的金属离子浓度。

FISCHERSCOPE® X-RAY XDVM®-P instrument series

FISCHERSCOPE® X-RAY     Version with programmable XY stage and programmable X-Ray

XDVM®-P                  head Z-axis

                            XY stage travel : 250 mm x 250 mm

Dimensions

Measurement head            width = 660 mm; depth = 950 mm; height = 720 mm

Measurement chamber         width = 580 mm; depth = 560 mm; height = 145 mm