相位测量技术；光耦测量技术；电流测量技术；多端点元件测量技术；自动寻找等电位隔离点；高压侦测高压放电技术；电路中R,L,C元件值测量；16个输入输出GPIO端口；二极管测量（二极管、稳压二极管）；晶体管测量技术（双极性晶体管（BJT）、场效应晶体管（FET））；电容极性测量技术（漏电流极性测试法；TSET JET测量胆电容极性；TSET JET 感应测量技术（连接器焊接情况的测量；SMT元件引脚开路测量。
技术亮点：
1、系统软件功能强大
2、边界扫描技术
3、IC程序串行烧录
4、LED颜色亮度测量
5、多组可编程DUT电源
6、晶振频率测量与音频分析
7、现场系统管理与远程协助
8、并行数据位测试与串行通信测
模块介绍
系统软件功能
·支持x p ,win7，win8，win10系统
·支持多种语言，自动识别屏幕分辨率
·丰富报表功能与多种板图显示界面。
·完善的功能自检模块，自动测试与强大的自动学习能力
多组可编程DUT电源
可编程DUT电源，用于给产品供电，有定压 限流作用，恒流源，进行定流 限压 ，保证测试产品**。
边界扫描技术
高集成高密集的电路板,植针率低,采用边界扫描技术,对Microprocessor、DSP、FPGA、ASIC和CPLD检测，判断IC性能与引脚焊接状况。
LED颜色亮度测量
测量系统能够实现快速动测试LED的颜色和亮度。专为LED和液晶显示器等设计的测试装置
现场系统管理与远程协助
测试数据存储企业服务器；管理人员可以随时,在线了解产生情况；产品进行能效分析,制成分析,提高品质；接外网时协助工程师设备维护,提高生产效率。
并行数据位测试与串行通信测试
并行数据位测试针对数模转换IC(DDS,AD,DA),数据位正常与焊接情况，串行通信对整个通信电路的检验。
系统规格
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测试点数: 标准配备：256点, *大扩充点数:2048点
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使用系统: XP/WIN7/WIN8/WIN10
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电源规格： AC100V-120V ,200V-240V/50HZ-60HZ/350W (单相)
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测试方式： 手动压床式，手动治具式，全自动式，
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测试项目： *大测试步骤：100000setps
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模拟硬件
可编程DC电压源: 0---+/-10V 精度:10mV
可编程DC电流源: *大100mA 精度:10uA-1mA
可编程AC电压源: 10Hz---1MHz 精度:1Hz-10Hz
DC电压量测: 0---+/-100V 精度:3mV-50mV
DC电流量测: 10uA---200mA 精度:1uA-1mA
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测试范围:
电阻：直流定电流（CC） 电感： 交流定电压（A）
直流定电压（CV） ( 0.05Ω至40MΩ) 相位测量（Phase）
相位测量（Phase） 二极管/三极管测试：0至100V
电容：交流定电压（A） 16组通用GPIO
限压定电流（DC） (10PF至1F)
相位测量（Phase）
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选配硬件
开路检测TESJET技术: 升级版可量测更小IC及连接器
频率量测: *大200MHz 精度1Hz-50Hz
LED颜色及亮度量测模块
双段式压床及INLINE式结构
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DUT电源模块
1组高压直流电源: 100V/100mA (恒流限压)
1组高压稳压电源: 105---0v /1000mA
2组可编程电压源: 1-20V, 0.5A-2A,10Watt,电流量测100uA-2A (恒压限流)
4组固定电源输出: +12V, -12v ,+5v, +24v /10mA-1000mA
支持外部可编程电源: USB/GPIB/COM类外部可编程电源
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串行测试模块
2组串行测试通道,可达1M速率
串行通讯协议: IIC,SPI,CAN,UART
边界扫描功能: JATG接口边扫描及功能测试
16位数字IO: Vih:0.8-4.6V;Voh:0.1-4.9V
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