一、特点: 采用数码图象技术，自动识别轮廓边界，减小人为误差，提高操作效率 以进口精密光栅作为测量元件，稳定性好，发热量低，抗腐蚀，耐污染 主机结构久经考验 精密、稳定 功能强大的软件，可完成复杂的测量工作 软件数据能与CAD通讯，可完成测绘工作 全部采用LED发光管照明，发热量低，寿命长 以红色激光点打在工件表面，实现快速找象 保留目镜观测口，并能快速切换 角度和测高也全部数显化 带有承放仪器的高强度专用工作台二、用途: 能**测量各种工件的尺寸、角度、形状和位置，以及螺纹制件的各参数。适用于机械制造业、精密工、模具制造业、仪器仪表制造业、**工业、航空航天及汽车制造业、电子行业、塑料与橡胶行业的计量室、检查站和高等院校、科研院所，对机械零件、量具、刀具、夹具、模具、电子元件、电路板、冲压件、塑料及橡胶制品进行质量检测和控制。三、规格参数:坐标测量行程： X坐标：0—200mm Y坐标：0—100mm方工作台测量工作*大高度: 140 mm仪器*大载重:40kgX、Y坐标测量系统：Renishaw精密光栅系统，分辨率0.2μmX、Y 坐标示值准确度：（1+L/100）μm L：被测长度，单位为mm角度分度系统：Renishaw精密环形光栅，分辨率5″分度头角度测量准确度：30″显微镜立柱角度倾斜范围:±12°物镜：
物镜放大率
物镜工作距离(㎜)
屏幕图象放大率
屏幕图象范围(㎜)
1×
82
40×
1/2″≈5.2×4.1
1/3″≈4.1×3.1
3×
70
120×
1/2″≈1.7×1.4
1/3″≈1.4×1.0
5×
49
200×
1/2″≈1.0×0.8
1/3″≈0.8×0.6
目镜：目视及CCD两用系统摄像系统高分辨率工业CCD：日立1/3″黑白(或彩色)象素数795×596辅助寻象系统：高亮度半导体激光器可选购具有Renishaw精密光栅系统分辨率0.2μm的测高装置，测量范围100mm仪器主机外型尺寸(mm):1300 × 1250 × 800
仪器主机总重:450kg