抗干扰介质损耗测试仪 NXJS-V 成都贝斯达仪器有限公司

抗干扰介质损耗测试仪

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简单介绍

NXJS-V型抗干扰介质损耗测试仪 1．量程：电容值：3pF-60nF 介损值：0～100% 2．精度： a）电容精度：±（1.0%读数+5pF） b）介损精度：±（1%读数+0.04%） c) 频率精度： ±0.01

产品描述

NXJS-V型抗干扰介质损耗测试仪
一、技术指标

1．量程：

电容值：3pF-60nF 介损值：0～100%

2．精度：

a）电容精度：±（1.0%读数+5pF）

b）介损精度：±（1%读数+0.04%）

c) 频率精度： ±0.01

3．分辨率：

电容分辨率：*小可分辨0.001 pF

介损分辨率：*小可分辨0.001%

4．高压电源：设定范围：0.5~10kV *大输出电流：200mA

5. 低压输出：输出电压3--50V 输出电流3—30A

6．工作环境：

工作电源：AC220V ±10%，50±1Hz

工作温度：0～40℃

环境湿度：≤90%RH，不结露

7.重量：28kg

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