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产品简单介绍
三维表面轮廓仪 SURFIEW 4000
SURFIEW 4000
三维表面轮廓仪利用光的干扰,可迅速,准确,并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。相比接触性方式,不会对测量物造成任何损伤,相比共焦方式,高解像力无关倍率均可得到统一结果,与AFM相比,可在宽测量领域内快速测量。
DektakXT探针式表面轮廓仪
DektakXT
DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项**性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5?。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术**的顶峰,更加巩固了其行业**地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术突破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。
Contour Elite三维光学显微镜
Contour Elite
布鲁克Contour Elite™三维光学显微镜在已经业界广泛使用的技术**的平台上,进一步增强Vision64®软件的用户易用性,**性加入全新的成像软硬件,拓展高保真成像能力。
光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪
NANOMAP D
NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪 美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的**供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。
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