X射线镀层测厚仪 XRF 2000 仪高南仪器(深圳)有限公司1

如果您对该产品感兴趣的话，可以
产品名称：韩国Micro Pioneer XRF 2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪
产品型号：XRF 2000
产品展商：MICRO PIONEER
产品文档：无相关文档

简单介绍

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

产品描述

韩国Micro Pioneer XRF 2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪

产品介绍

X 萤光射线膜厚分析仪是利用 XRF 原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用於材料的涂层 / 镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

XRF-2000 系列分为以下三种：
1. H-Type :密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。
2. L-Type : 密闭式样品室，方便测量样品较小，高度约30mm以下。
3. PCB-Type : 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测。
应用 :
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围： Ti(22)~U(92 )。
行业 :
五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。
特色 :
  非破坏，非接触式检测分析，快速精準。
  可测量高达六层的镀层 (五层厚度 + 底材 ) 并可同时分析多种元素。
  相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告。
  全系列独特设计样品与光径自动对準系统。
  标準配备: 溶液分析软体，可以分析电镀液成份与含量。
準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。
  移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。
  独特2D与3D或任意位置表面量测分析。
  雷射对焦，配**色CCD擷取影像使用point and shot功能。

标準ROI软体搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。

光学2 0X 影像放大功能，更能**对位。

单位选择： mils 、 uin 、 mm 、 um 。
  优於美製仪器的设计与零件可靠度以及拥有价格与零件的*佳优势。
  仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。
  测试方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。

韩国Micro Pioneer 还推出一款元素分析及测厚两用的XRF-2000R型号

Micro Pioneer XRF-2000R X光镀层测厚仪及ROHS元素分析仪

是在XRF-2000系列测厚仪的基础上增加了元素分析及有害物质检测的功能，

其物点为：高分辨率，固态探测器; 可分析超薄样品

分析有害物质，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE标准测试以及ELV指令优化的应用;

可测量多层镀层厚度及锡铅成分分析；

电镀溶液分析；

定性分析超过30种元素,能够测量液体，固体，粉末，薄膜和不规则形状；

贵金属元素含量和分析（金，银，铂，和珠宝）；

自动过滤器，多准直仪(五个准直器，从0.1mm-3.0mm)和全自动XYZ移动样品台；

性价比超强的元素分析及镀层测厚双功能分析仪器

仪器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg (net)

可测量样器大小：W550mm D550mm H30mm

产品留言

标题

联系人

联系电话

内容

验证码

点击换一张

注：1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!

温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
免责申明：以上内容为注册会员自行发布，若信息的真实性、合法性存在争议，平台将会监督协助处理，欢迎举报

产品目录

产品资料

韩国Micro Pioneer XRF 2000 X射线镀层测厚仪/膜厚仪