首页 >>> 产品目录 >>> 半导体分立器件测试仪
仪表展览网 >>> 展馆展区 >>> 晶体管测试仪厂家
> 晶体管测试仪厂家

产品资料

晶体管测试仪厂家

晶体管测试仪厂家
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:晶体管测试仪厂家
  • 产品型号:
  • 产品展商:易恩电气
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
晶体管测试仪厂家提供YB6500/YB6200半导体静态参数测试仪,晶体管测试仪厂家易恩电气科技有限公司生产销售的半导体静态参数测试仪YB6500/YB6200符合国《GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法》和国家标准GB/T 4587-94测试规范。两种测试仪选配YB580-1250/YB580-500可以将C-E极电流扩展到1250A/500A,满足IGBT/IPM等功率器件测试
产品描述


晶体管测试仪厂家提供以下测试仪
一、YB6200半导体静态参数测试仪|西安易恩电气科技有限公司生产|符合《GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法》,
晶体管测试仪厂家YB6200半导体静态参数测试仪在研究所、院校、**企业、电子产品厂家用做IQC部门半导体分立器件的直流参数测试;可连接分选机。

通过增加选件YB580-500,可以扩展主极电流到500A,满足MOSFET、IGBT等功率器件测试需求。

1.电学指标
A-K 极间加压范围:                    ±100mV--2000V  
A-K 极间测流范围:                   ±100nA--49.90A     
A-K 极间加流范围:                   ±100nA--49.90A  
A-K 极间测压范围:                   ±100mV--2000V 
G-K 极间加压范围:                   ±100mV--20V   
G-K 极间测流范围:                   ±100nA--10A        
G-K 极间加流范围:                   ±100nA--10A      
G-K 极间测压范围:                   ±100mV--20V
*大电压分辨率:                     5mV
*大电流分辨率:                     1nA
A-K 极间加/测压精度:                1%+10mV
A-K 极间加/测流精度:                1%+10nA+20pA/V
G-K 极间加/测压精度:                1%+5mV
G-K 极间加/测流精度:                1%+10nA+20pA/V
电参数测试重复性:                  2%
2. 可测试器件(DUT)种类
序号
类型名称
符号
1
二极管
DIODE
2
稳压(齐纳)二极管
ZENER
3
晶体管
TRANSISTOR(NPN/PNP)
4
单向可控硅(普通晶闸管)
SCR
5
双向可控硅(双向晶闸管)
TRIAC
6
金属-氧化物-半导体场效应管
MOSFET(N-CH/P-CH)
7
结型场效应管
J-FET(N-CH/P-CH)
8
绝缘栅双极大功率晶体管
IGBT(N-CH/P-CH)
9
达林顿阵列器件
DARLINGTON
10*
光电耦合器
OPTO-COUPLER(NPN/PNP)
11*
光电逻辑器件
OPTO-LOGIC
12*
光电开关管
OPTO-SWITCH
13*
固态过压保护器
SSOVP
14*
硅触发开关
STS,SBS
 
共计14大类。
* 需要另行定制专门的测试适配器和测试夹具。
二、晶体管测试仪厂家**半导体静态参数测试仪YB6500符合国《GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法》和国家标准GB/T 4587-94测试规范。
在研究所、院校、**企业、电子产品厂家用做IQC部门半导体分立器件的直流参数测试;可连接分选机。
通过增加选件YB580-1250,可以扩展主极电流到1250A,满足MOSFET、IGBT等功率器件测试需求
 
1.电学指标
A-K 极间加压范围:                   ±2.500mV--2000V  
A-K 极间测流范围:                   ±1nA--49.90A     
A-K 极间加流范围:                   ±100nA--49.90A   
A-K 极间测压范围:                   ±2.500mV--2000V 
G-K 极间加压范围:                   ±2.500mV--20V   
G-K 极间测流范围:                   ±1nA--10A        
G-K 极间加流范围:                   ±100nA--10A      
G-K 极间测压范围:                   ±2.500mV--20V
*大电压分辨率:                     1mV
*大电流分辨率:                     1nA
A-K 极间加/测压精度:                1%+10mV
A-K 极间加/测流精度:                1%+10nA+20pA/V
G-K 极间加/测压精度:                1%+5mV
G-K 极间加/测流精度:                1%+10nA+20pA/V
电参数测试重复性:                  2%
2. 可测试器件(DUT)种类
序号
类型名称
符号
1
二极管
DIODE
2
稳压(齐纳)二极管
ZENER
3
晶体管
TRANSISTOR(NPN/PNP)
4
单向可控硅(普通晶闸管)
SCR
5
双向可控硅(双向晶闸管)
TRIAC
6
金属-氧化物-半导体场效应管
MOSFET(N-CH/P-CH)
7
结型场效应管
J-FET(N-CH/P-CH)
8
绝缘栅双极大功率晶体管
IGBTN-CH/P-CH
9
达林顿阵列器件
DARLINGTON
10*
光电耦合器
OPTO-COUPLER(NPN/PNP)
11*
光电逻辑器件
OPTO-LOGIC
12*
光电开关管
OPTO-SWITCH
13*
固态过压保护器
SSOVP
14*
硅触发开关
STS,SBS
15*
继电器
RELAY(A,B,C型)
16*
金属氧化物压变电阻
MOV
17*
压变电阻
VARISTOR
      18*
双向触发二极管
DIAC
     19*
三端稳压器
REGULATOR
共计19大类, 27分类分立器件。
* 需要另行定制专门的测试适配器和测试夹具。
三、晶体管测试仪厂家产品特征
  1采用嵌入式计算机,运行速度快,软、硬件升级/扩展功能力强,实现脱机运行;
  2采用多级开尔文技术,16位并行D/A、A/D和专用并行内部总线技术保障系统稳定性高,测试准确,重复性好;
  3采用脉冲法测试参数、脉宽可为300μS;
  4在线系统状态、测试结果、故障定位显示功能,使得使用方便简单,测试结果多种保存方式提供在线打印功能;
  5精密电阻采用国产军级,继电器采用进口原装湿继电器,采用**装焊工艺,保证系统可靠性;
  6二极管极性自动判别功能,提高操作速度;
  7、测试程序为填表式,简单易学,参数测试编程不受器件类别的限制,支持技术人员实现分析编程;
  8计算步功能,允许将任意测试程序步的测试结果列式计算,形成新的参数,方便新参数定义;
  9配置留有计算机标准接口,探针台和分选机接口等;
  10测试原理符合相应的国家标准、**标准和行业标准。 


产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!
  • 温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
  • 免责申明:以上内容为注册会员自行发布,若信息的真实性、合法性存在争议,平台将会监督协助处理,欢迎举报
产品留言
标题
内容
联系人
联系电话
电子邮件
公司名称
联系地址
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!