北京时代TT230整体涂层测厚仪介绍： 北京时代涂层测厚仪TT230是一种超小型的测量仪。时代TT230涂层测厚仪能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。TT230覆层测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。TT230氧化膜测厚仪体积小，测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。 北京时代TT230整体涂层测厚仪 的主要功能 可进行零点校准及二点校准。 可对测头进行基本校准。 设有五个统计量：平均值（MEAN）、大值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO），标准偏差（S.DEV）。存贮和统计计算15个测量值。 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）。 自动关机功能。 删除功能：对测量中出现的单次可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量。 操作过程有蜂鸣声提示。 有欠压指示功能。 有错误提示功能。 北京时代TT230整体涂层测厚仪技术指标： 测量原理：涡流法 测量范围：1～1250μm 测量精度：±（3%H+1.5）μm（零点校准） ±[(1～3)%H+1.5] μm（二点校准） 北京时代TT230整体涂层测厚仪标配： 主机，标准片，基体，充电器
沪公网安备 31011702004270号
