探伤仪探头

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深圳市泰立仪器仪表有限公司
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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	美国GE塑料楔块斜探头 WSY60-4	美国GE塑料楔块斜探头带有可更换斜楔的非常小的探头（更换斜楔以根据需要改变入射角度或防止异常磨损）美国GE塑料楔块斜探头可以调节入射角度的通用探头
	美国GE特殊斜楔块斜探头 K1SC *)+KSMY45	美国GE特殊斜楔块斜探头WRY..、WSY..和K..S+KSY..：对具有强的声波散射的材料进行测试（如奥氏体焊接点和球墨铸铁）。7美国GE特殊斜楔块斜探头。
	美国GE特殊斜楔塑料楔块斜探头 K0.5S *)+KSY45	美国GE特殊斜楔塑料楔块斜探头，美国GE特殊斜楔塑料楔块斜探头 K0.5S )+KSY45 K1S )+KSY45 K1SM )+K3MY45 K1SC )+KSMY45 K2SC *)+KSMY45
	美国GE探伤仪斜探头 SMWK60-5	美国GE探伤仪斜探头，美国GE探伤仪斜探头35度 45度 60度 70度 80度 90度
	美国GE塑料楔块斜探头 MWK60-2	美国GE塑料楔块斜探头用于小物体的测试。美国GE塑料楔块斜探头经常用于容器或锅炉部分的焊接测试，特别是螺杆、螺钉和高应力机械零件的裂缝探测。
	美国GE探伤仪斜探头 MWB80-2	美国GE探伤仪斜探头经常用于容器或锅炉部分的焊接测试，特别是螺杆、螺钉和高应力机械零件的裂缝探测。美国GE探伤仪斜探头其它应用：腐蚀探测（如气瓶内部）和管道上装配焊缝的测试。
	美国GE塑料楔块斜探头 SWK70-2	美国GE塑料楔块斜探头，美国GE塑料楔块斜探头主要特性： •单晶体斜探头，用于超声脉冲的发射和接收 •用于横波斜扫描的标准探头 •特殊的粗晶探头，为了在强衰减材料中获得理想的信噪比，可以用非常短的声波脉冲实现纵波的斜扫描 •带有可更换斜楔的非常小的探头（更换斜楔以根据需要改变入射角度或防止异常磨损） •可以调节入射角度的通用探头 •对大多数类型，有备用件以便在磨损的情况下更换接触面
	美国GE塑料楔块斜探头 WK70-2	美国GE塑料楔块斜探头通常：直探头不能到达的或者与表面成一定角度或垂直方向分布的缺陷的探测和评估。美国GE塑料楔块斜探头WB..和WK..：用于由非合金或低合金钢制成的大物体的测试（如厚壁容器、转轴、所有厚的焊接件）。WK..探头产生非常短的回波脉冲。
	美国GE带组合塑料楔块探头 WB70-4	美国GE带组合塑料楔块探头WB..和WK..：用于由非合金或低合金钢制成的大物体的测试（如厚壁容器、转轴、所有厚的焊接件）。美国GE带组合塑料楔块探头WK..探头产生非常短的回波脉冲。
	美国GE-TR直探头 MSEK2	美国GE-TR直探头美国GE-TR直探头主要特性： •独立的发射器和接收器单元 •纵波垂直扫描 •小焦距探头具有非常好的近场分辨率 •由于可研磨的塑料延迟线，即使在粗糙或弯曲的表面也有好的耦合性 •延迟线由一个金属环保护以防磨损 •特别适合于聚焦区域内剩余壁厚的测量 •加上特殊的延迟线（特殊产品）适合于在热的表面上的测量
	美国GE探伤仪TR直探头 SEB10KF3	美国GE探伤仪TR直探头SEB..KF和SEZ5M5：具有小的高度和小的单元尺寸的特殊探头，用于近表面的小的和*小的缺陷的探测。美国GE探伤仪TR直探头简洁的形状使这种类型的探头可以用于一些临界位置或者不易接近的位置。
	美国GE-带组合延迟线TR直探头 SEB2KF5	美国GE-带组合延迟线TR直探头SEB..KF和SEZ5M5：具有小的高度和小的单元尺寸的特殊探头，用于近表面的小的和*小的缺陷的探测。美国GE-带组合延迟线TR直探头简洁的形状使这种类型的探头可以用于一些临界位置或者不易接近的位置。
	美国GE陶瓷表面直探头 K10K	美国GE陶瓷表面直探头K..K : 物体上不容易接近的地方。美国GE陶瓷表面直探头所提供的频率范围可以使在选择探测区域）。
	美国GE陶瓷表面直探头 K6N	美国GE陶瓷表面直探头K..G和K..N：小型探头,用于探测小型物体上的非常小的反射物，或者大的,美国GE陶瓷表面直探头通常用作由不同材料（如钢、金属、玻璃、瓷、陶瓷）制成的小、中和大尺寸的物体的测试。由于具有好的分辨率。
	美国GE硬质表面直探头 G10K	美国GE硬质表面直探头G..N，G..K，G..KB和G..MN：是具有相当高的衰减和宽带冲击波的探头，可以产生非常短的声波脉冲。美国GE硬质表面直探头它们可以很好地区分简单的单个缺陷和缺陷区域，而且在非均匀材料（铸造组织、合成材料）中具有很好的穿透能力。
	美国GE指尖式探头 MB4F	美国GE指尖式探头B..F和MB..F：可以与探头K..G和K..N相比较，但是由于扁平设计，它们非常适合于那些不容易接近的位置的测试。美国GE指尖式探头经常被称作"搜索探头"。
	美国GE指尖式直探头 B4F	美国GE指尖式直探头B..F和MB..F：可以与探头K..G和K..N相比较，但是由于扁平设计，它们非常适合于那些不容易接近的位置的测试。美国GE指尖式直探头经常被称作"搜索探头"。
	美国GE探伤仪直探头 MB5S	美国GE探伤仪直探头B..S和MB..S：这类探头的公差分布范围窄，对目前大多数的测试任务来说（例如平板物、条状物和方形轮廓物体的测试，以及容器和螺钉、螺孔和外壳等的测试），可以达到*高的精度要求。美国GE探伤仪直探头对于由多种材料（例如所有的金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）构成的形状简单的部件的测试也可以达到高精度要求。
	美国GE探伤直探头 B4S	美国GE探伤直探头 B..SL：用于测试这样一类中等尺寸和大尺寸物体，它们由于具有长的声程（例如大的锻件或球墨铸铁）而会导致大的声波衰减。美国GE探伤直探头它们也适合用于测试具有强的声波吸收特性的塑料（例如尼龙、特氟龙、聚丙烯），为增加灵敏度和分辨率，可以将保护膜去掉。
	美国GE塑料楔块斜探头 WB35-4	美国GE塑料楔块斜探头大的外形、大的深度时具有窄的声波场，美国GE塑料楔块斜探头主要应用：通常：直探头不能到达的或者与表面成一定角度或垂直方向分布的缺陷的探测和评估。

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