探伤仪探头

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深圳市泰立仪器仪表有限公司
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	美国GE塑料楔块斜探头 WB35-2	美国GE塑料楔块斜探头WB..和WK..：用于由非合金或低合金钢制成的大物体的测试（如厚壁容器、转轴、所有厚的焊接件）。美国GE塑料楔块斜探头WK..探头产生非常短的回波脉冲。
	美国GE塑料楔块斜探头 WB45-1	美国GE塑料楔块斜探头美国GE塑料楔块斜探头主要特性： •单晶体斜探头，用于超声脉冲的发射和接收 •用于横波斜扫描的标准探头 •特殊的粗晶探头，为了在强衰减材料中获得理想的信噪比，可以用非常短的声波脉冲实现纵波的斜扫描 •带有可更换斜楔的非常小的探头（更换斜楔以根据需要改变入射角度或防止异常磨损） •可以调节入射角度的通用探头 •对大多数类型，有备用件以便在磨损的情况下更换接触面
	美国GE探伤仪TR直探头 MSEB4	美国GE探伤仪TR直探头MSEB..和MSEB..0°：所有类型小零件（如螺杆、螺钉、螺母、销钉、轴承环、轴承和装配材料）的评估的常用探头。美国GE探伤仪TR直探头它们也可用于壁厚和剩余厚度的测量（如被腐蚀和侵蚀的管子、容器和机械零件）。
	美国GE超声波探伤仪TR直探头 SEB2-0°	美国GE超声波探伤仪TR直探头，美国GE超声波探伤仪TR直探头主要特性： •独立的发射器和接收器单元 •纵波垂直扫描 •小焦距探头具有非常好的近场分辨率 •由于可研磨的塑料延迟线，即使在粗糙或弯曲的表面也有的耦合性 •延迟线由一个金属环保护以防磨损 •特别适合于聚焦区域内剩余壁厚的测量 •加上特殊的延迟线（特殊产品）适合于在热的表面上的测量
	美国GE-带延迟线TR直探头 DA0.8G	美国GE-带延迟线TR直探头，美国GE-带延迟线TR直探头。主要应用：通常：近表面的小缺陷的探测和评估。聚焦区域内较大缺陷以及平行于表面分布的缺陷的扫描。剩余壁厚的测量（即使在提高温度的情况下）。
	美国GE硬质面直探头 G2KB	美国GE硬质面直探头特性：G..N，G..K，G..KB和G..MN：是具有相当高的衰减和宽带冲击波的探头，可以产生非常短的声波脉冲。美国GE硬质面直探头它们可以很好地区分简单的单个缺陷和缺陷区域，而且在非均匀材料（铸造组织、合成材料）中具有很好的穿透能力。
	美国GE探伤仪硬质面直探头 G1N	美国GE探伤仪硬质面直探头特性：G..N，G..K，G..KB和G..MN：是具有相当高的衰减和宽带冲击波的探头，可以产生非常短的声波脉冲。美国GE探伤仪硬质面直探头它们可以很好地区分简单的单个缺陷和缺陷区域，而且在非均匀材料（铸造组织、合成材料）中具有很好的穿透能力。
	美国GE探伤仪指尖式探头 B1F	美国GE探伤仪指尖式探头非常好的穿透性，美国GE探伤仪指尖式探头高的抗磨损性
	美国GE陶瓷面直探头 K1G	美国GE陶瓷面直探头通常：对所有类型零件体内或沿表面分布的缺陷的探测和评估。可以用于有保护膜的探头不适合的有锋利边缘的物体的测试。美国GE陶瓷面直探头
	美国GE可更换保护膜探头 B1SL	美国GE可更换保护膜探头，美国GE可更换保护膜探头主要特性： •单晶探头进行声波脉冲的发射和接收 •纵波的垂直传输 •由于柔性的抗磨损保护膜而具有稳定的耦合特性，即使是在粗糙或轻微弯曲的表面上 •特殊的粗晶探头，在测试高的声波衰减材料时，利用短的声波脉冲可以达到高信噪比 •由于采用印模压铸成型，因此实际形状具有很高的稳定性
	美国GE可换保护膜直探头 B2SL	美国GE可换保护膜直探头B..S和MB..S：这类探头的公差分布范围窄，对目前大多数的测试任务来说（例如平板物、条状物和方形轮廓物体的测试，以及容器和螺钉、螺孔和外壳等的测试），可以达到*高的精度要求。美国GE可换保护膜直探头对于由多种材料（例如所有的金属材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料）构成的形状简单的部件的测试也可以达到高精度要求。
	德国KK双晶横波斜探头 SEB1,SEB2,SEB4	德国KK双晶横波斜探头，德国KK双晶横波斜探头特点 ·独立的声波发射和接收单元 ·纵波垂直传输 ·小焦距探头具有非常好的近场分辨率 ·使用耐磨的塑料延迟线，即使在粗糙或弯曲的表面也能很好耦合性 ·延迟线由一个金属环保护以防磨损 ·在焦点内特别适合剩余壁厚的测量 ·加上特殊的延迟线（特殊产品）能够在高��表面测量

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