牛津仪器OXFORD CMI 243便携金属镀层测厚仪是一款灵便、易用的仪器，专为金属表面处理者设计。配置的单探头可测量铁质底材上金属镀层 - 即使在小的、形状的或表面粗糙的样品上都可以进行测量。这款测厚仪是紧固件行业应用的工具。采用基于相位的电涡流技术，CMI243式测厚仪易于用户控制，并且可以同X射线荧光测厚仪的准确性和精密性媲美。为了让客户能以低成本购买，CMI243免去了对多探头、操作培训和持续保养的需要。牛津仪器公司提供可靠的高品质产品，并拥有快速响应的客户服务团队。更为超值的是，这款侧厚仪可享一年保修期。

测量技术

一般的测试方法，例如一般测厚仪制造商所采用的普通磁感应和涡流方式，由于探头的" 升离效应" 导致的底材效应，和由于测试件形状和结构导致的干扰，都无法达到对金属性镀层厚度的测量。而牛津仪器将新的基于相位的电涡流技术应用到CMI243，使其达到了±3%以内（对比标准片）的准确度和0.3% 以内的度。牛津仪器对电涡流技术的特应用，将底材效应小化，使得测量精准且不受零件的几何形状影响。另外，仪器一般不需要在铁质底材上进行校准。

先进的ECP-M探头
ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计，此单探头可以测量铁质底材上金属覆层，例如锌、镍、铜、铬和镉。更小的探针为小的、形状的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量。

附件为中英文对照的操作说明书，供广大用户阅读！