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红外成像技术根据缺陷所产生的原因作出判断

红外成像技术根据缺陷所产生的原因作出判断
采用红外成像技术可开展以下电力设备状态检测与故障诊断工作。
　　● 高压电气设备运行状态检测与内、外中心故障诊断：
　　● 各类导电接头、线夹、接线桩头氧化腐蚀以及连接**缺陷;
　　● 各类高压开关内中心触头接触**缺陷;
　　● 隔离刀闸刀口与触片以及转动帽与球头结合 **缺陷;
　　● 各类CT一次内中心及外中心连接**缺陷、本体及油绝缘**缺陷以及内中心铁芯、线圈异常**过热陷;
　　● 各类PT绝缘**缺陷、缺油以及内中心铁芯、线圈异常**过热缺陷;
　　● 各类电容器过热、耦合电容器油绝缘**和缺油(低油位)缺陷;
　　● 各类避雷器内中心受潮缺陷、内中心元件老化或非线性特性异变缺陷;
　　● 各类绝缘瓷瓶表面污秽缺陷，零值绝缘子检测，劣化瓷瓶检测;
　　● 发电机运行状态检测、电刷与集电环接触状态检测、内中心过热检测;
　　● 电力变压器箱体异常过热，涡流过热，高、低压套管上、下两端连接**以及充油套管缺油(低油位)缺陷;
　　● 各类电动机轴瓦接触**以及本体内、外中心异常过热。
所谓电气设备热缺陷，通常是指通过一定手段检测得到，由于其内在或外在原因所造成的的发热现象。
　　根据缺陷所产生的原因不同，我们通常归纳为3 种：一种是长期暴露在空气中的部件，由于温度湿度的影响，或表面结垢而引起的接触**，或由于外力作用所引起的部件损伤，因而使得的导电截面积减少而产生的发热。如接头连接**，螺栓，垫圈未压紧;长期运行腐蚀氧化;大气中的活性气体、灰尘引起的腐蚀;元器件材质**，加工安装工艺不好造成导体损伤;机械振动等各种原因所造成的导体实际截面降低;负荷电流不稳或超标等。
另一类是由于电器内部本身故障，如内部连接部件接触**导致的电阻过大;绝缘材料老化、开裂、脱落;内部元件受潮，元气件损耗增大;冷却介质管路阻塞等等。
红外热像仪　　对于那些可以直接观察到的设备及元气件，都能够发现所有连接点的热隐患。对于那些由于被遮挡而无法直接看到的部分，则可以根据其热量传递到外面部件上的情况加以分析，从而得出结论。由于现场的实际情况千变万化，即便你通过热像仪得到了一张有热点的图片，要想作出一个**的判断，可能会受许多因素的影响。如当前的温度，风量，负荷等情况。我们可以根据不同的特点，作相关的分析，作出相应的判断.
 

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