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  • 产品名称：CHY-C2薄膜测厚仪

  • 产品型号：CHY-C2
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简单介绍：
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详情介绍：

薄膜测厚仪CHY-C2的详细介绍

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薄膜测厚仪CHY-C2

详细内容：
适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。

 
一、薄膜测厚仪特征：
微电脑控制、液晶显示
菜单式界面、PVC操作面板
接触式测量
测头自动升降
手动、自动双重测量模式
数据实时显示、自动统计、打印
显示zui大值、zui小值、平均值和统计偏差
标准接触面积、测量压力（非标可选）
标准量块标定
微型打印机
RS232接口
网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
技术指标
测量范围：0～2mm（常规）
　　　　　0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电　　源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)
净　　重：33kg
二、薄膜测厚仪CHY-C2标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
三、薄膜测厚仪CHY-C2配置
标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
选 购 件：软件、通信电缆、配重砝码盘、配重砝码
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