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产品资料

3504-50/40专业电容测试仪|日本日置电容测试仪

3504-50/40专业电容测试仪|日本日置电容测试仪
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  • 产品名称:3504-50/40专业电容测试仪|日本日置电容测试仪
  • 产品型号:3504-50/40电容测试仪
  • 产品展商:日本日置-HIOKI
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简单介绍
3504-50/40专业电容测试仪|日本日置电容测试仪.•高速测量2ms •能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断 •对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能 •3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
产品描述

3504-50/40专业电容测试仪|日本日置电容测试仪
基本参数
测量参数 Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围 C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本确度 (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B~Eは各系数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒定电压模式: 100mV (**3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ~ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ~ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ~ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻 (开路端子电压模式,上述测量范围以外)
显示 发光二级管 (6行表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能 4端子控制检测功能(**3504-60),BIN测量(除去3504-40),触发同时输出,储存测量条件,比较测量值的场强,平均值功能,Low-C抑制功能,鸣叫功能,控制用输出入(EXT.I/O),RS-232C界面(标准装备),GP-IB接口(3504-40除外)
电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, *大110VA
体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 电源线×1,预备电源保险丝×1
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