美国CMI孔壁铜测厚仪 - 天津品尚仪表设备有限公司

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	美国CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪 CMI 900	美国CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪 CMI900 X-RAY的原理 X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，

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