普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站是一个建立在电化学扫描探针的设计基础上的,进行超高测量分辨率及空间分辨率的非接触式微区形貌及电化学微区测试系统。
普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站是提供给电化学及材料测试以极高空间分辨率的一个测试平台。每个VersaSCAN都具有高分辨率,长工作距离的闭环定位系统并安装于抗震光学平台上。不同的辅助选件都安装于定位系统上,辅助选件包括,如电位计,压电振动单元,或者激光传感器,为不同扫描探针试验,定位系统提供不同的功能。VersaSTAT恒电位仪和Signal Recovery 7230锁相放大器和定位系统整合在一起,由以太网来控制,保证小信号的**测量。
普林斯顿VersaScan微区扫描电化学工作站是一个模块化配置的系统,可以实现如下现今所有微区扫描探针电化学技术以及激光非接触式微区形貌测试:
VersaSCAN SECM-普林斯顿Princeton Scanning ElectroChemical Microscopy 扫描电化学显微镜系统
VersaSCAN SECM 整合了定位系统、两台VersaSTAT恒电位仪和锥形抛光的超微电极探针为一体。SECM多样化的技术提供了高空间分辨率,可应用于反应动力学,生物传感器,催化剂和腐蚀机理等研究。
1. 兼容恒电位仪: VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4
2. 可进行逼近曲线实验包含“反馈”模式和“发生-采集”模式两种成像模式。
3. 结合了表面形貌测量技术,如典型的如非接触式微区形貌扫描系统OSP,可进行样品表面定距离扫描,
4. VersaSTATs 配置不同功能的操作软件,能够提供强大的成套的非扫描电化学测试,取决于其特有的软件模式。
VersaSCAN SVET-普林斯顿Princeton Scanning Vibrating Electrode Technique 扫描振动电极测量系统
VersaSCAN SVET 整合了定位系统及锁相放大器技术(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 压电振动模块, 电位计和单丝探针。 SVET技术测量溶液中的电压降。电解液中的电压降是由样品表面的局部电流所导致的。 SVET提供高分辨率可应用于不均匀腐蚀,点蚀,焊接和电耦合等。此外,SVET还有生物方面的应用。
VersaSCAN LEIS-普林斯顿Princeton Localized Electrochemical Impedance System 微区电化学阻抗测试系统
VersaSCAN LEIS 整合了 定位系统和VersaSTAT 3F 及差分电压选项, 静电计,双探头探针。 LEIS技术是通过测量施加于样品的交流电压和由探针所测量的溶液中交流电流的比值,来计算局部阻抗,LEIS加入高的空间分辨率,可应用于有机涂层,裸露的金属腐蚀,和所有和增加的交流技术相关的应用。
VersaSCAN SKP-普林斯顿Princeton Scanning Kelvin Probe 扫描开尔文探针系统
VersaSCAN SKP整合定位系统及锁相放大器技术(Signal Recovery Lock-in Amplifier), 压电振动模块, 电位计和钨丝探针。SKP 技术测量探针和样品表面位置的相对功函差。这是一个非破坏的技术,可运行于环境气氛,潮湿气氛和无电解液情况下。相对功函已经被证实与腐蚀电位 (Ecorr)相关。SKP 提供的高空间分辨率可应用于材料,半导体,金属腐蚀,甚至这些材料上的涂层。
2.可进行表面形貌测量,测量和设置探针和样品间的距离。
VersaSCAN SDC-普林斯顿Princeton Scanning Droplet Cell 电解液微滴扫描系统
VersaSCAN SDC 整合电位系统和一台VersaSTAT, 一个机械加工的PTFE 滴液系统头, 以及一个蠕动泵。SDC 技术对电解液微滴进行电化学测量, 固定电极/电解液界面的面积。SDC提供高空间分辨率可应用于动力学,腐蚀,流体研究和任何研究样品表面微小面积而无需破坏样品的应用或者控制面积在不同电解液中的暴露时间的应用。