日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代[万仪科技],用于陶瓷、断热材料材料放射测量
日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代,用于陶瓷、断热材料材料放射测量是在常温状态下,能快速方便的测量各种材质的放射率。适用各种研究机关、生产线、各材质表面处理之微小变化数值化,蓄热、断热材料之放射率测量,钢铁厂、半导体材质的放射率研究测量等。
日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代理测定原理:侦测并计算由定温放射源产生之远红外线照射之反射能量。
TSS-5X-2红外发射率检测仪技术规格:
测定波长:2~22μm
测定范围:放射率0.00~1.00
测量精度:±0.01以内
测定面积:Φ15mm
测定距离:12mm
材料温度:10~40℃(室温)
数值显示:LED数位显示
输 出:0~0.1V;0~1V Full-Scale
环境温度:10~45℃
环境湿度:35~85%(无结露状态)
使用电源:AC100~240V, 50/60Hz
外型尺寸:本体H156 x W306 x D230 mm, 2.8Kg
探侧头Φ51 X L137 mm, 0.6Kg
附 属 品:放射率0.06, 0.97基准片各一片,收纳箱一个。
制 造 商:日本侦测器株式会社
日本japansenor公司TSS5X-2红外发射率检测仪总代理证书
粤公网安备 44031102000140号