光学检测设备 - 仪思通科技(香港)有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	HS1000三维表面形貌仪 HS1000型三维表面形貌仪	HS1000型三维表面形貌仪是一款高速的三维形貌仪，*高扫描速度可达1m/s,采用白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品或质检现场使用。
	ST400三维表面形貌仪 ST400型三维表面形貌仪	ST400型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪，采用国际白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品，并具有多种选项，包含360°旋转工作台，原子力显微镜模块，光学显微镜，特征区域定位等多种功能模块。
	JR25三维表面形貌仪 JR25型三维表面形貌仪	JR25型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪，采用国际白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器的测量探头可以任意旋转，适合精密测量不可移动样品表面形貌，同时适合进行野外测试。
	PS50三维表面形貌仪 PS50型三维表面形貌仪	PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用国际白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。
	粘度/示差检测器 BI-2010/2020	BI-2010粘度检测器采用毛细管全桥式设计，具有高灵敏、低展宽、低噪音和节约测量时间等特点，其温控可从室温达到80℃。利用BI-2010可得到特征粘度，对样品进行同样校正，从而得到真实分子量和结构信息。特征粘度的检测结合Mark－Houwink曲线，得到分子机构如枝接密度，共聚组成信息。
	示差折射仪 BI-DNDC	BI-DNDC示差折射仪按测量方式区分：在静态方式下是测量聚合物溶液dn/dc值的专用仪器。采用注射器（2～2.5mL）直接进样，样品溶液浓度范围0.1～10mg/mL。在动态方式下作为凝胶色谱系统的在线示差检测器。采用进样阀进样，由蠕动泵或HPLC泵驱动。
	多角度激光光散射（分子量测定）仪 BI-MwA多角度激光光散射（分子量测定）仪	美国布鲁克海文仪器公司一直被全球公认为光散射领域的先驱，它的每一项技术都代表着世界高水平。基于多年光散射技术和经验开发研制的BI-MwA多角度激光光散射（分子量测定）仪对光散射仪器进行了开创性的革新，解决了*分子量测定中存在的诸多问题，使得分子量表征更加客观与可靠。
	广角动静态激光光散射仪 BI-200SM	广角激光光散射仪采用TurboCorr数字相关器，通过动态光散射的方法可以测量小至1nm的纳米颗粒分布情况，通过静态光散射的方法可测量高分子材料的Zimm、Berry、Debye曲线、分子量、均方根回旋半径及第.二维里系数。经国内外众多实验室使用，证明BI-200SM是研究聚合物、胶束、微乳液以及复杂溶液等体系的测试仪器。
	亚微米/纳米激光粒度仪 BI-90Plus	90Plus亚微米/纳米激光粒度仪基于动态光散射原理，是一种快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。动态光散射原理：由于颗粒在悬浮液中的布朗运动，使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器技术处理脉冲信号，可以得到颗粒运动的扩散信息后，进而利用Stokes－Einstein方程计算得出颗粒粒径及其分布。
	纳米激光粒度仪Zeta电位分析仪 90Plus PALS	90Plus PALS纳米激光粒度仪及高灵敏度Zeta电位分析仪是能够精准测量低电泳迁移率体系Zeta电位的仪器，它采用的是真正的硬件PALS(相位分析光散射)技术，比其它测量Zeta电位的技术灵敏度高1000倍。

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