薄膜四探针方阻测试仪HPS58003是一款专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，塑料薄膜、金属薄膜、金属镀层等同类物质的薄层电阻。
带弹簧测试探头, 接触可靠, 工作稳定, . 使用时只要把探头轻轻压在被测镀膜上面, 无需任何调节,新款方阻仪用5芯专用插座代替原有的香蕉插座，使得线缆不易折损，探头的使用寿命极大延长。