测厚仪 - 上海五久自动化设备有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	CHY-C2 测厚仪	CHY-C2 测厚仪产品介绍 CHY-C2薄膜测厚仪采用机械式测量方法，适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。
	CH-BT(0-30mm) 台式橡塑测厚仪	CH-BT(0-30mm) 台式橡塑测厚仪本测厚仪是用于测量硫化橡胶或热塑性橡胶试验用试样和制品等厚度的测量仪器，本仪器具有结构简单、使用方便、测量快速、直感等特点，其执行GB/T5723-93标准。
	CH-B(0-10mm) 台式橡塑测厚仪	CH-B(0-10mm) 台式橡塑测厚仪产品介绍本测厚仪主要用于塑料、纸张、纸片状药物等物体厚度的测量，该仪器有测量快速、直感、轻便等特点。可以随身携带手持测量，也可适用于物理试验室作式样测定。有手台两用的特点。本仪器执行GB/T5723-93标准。
	CH-1-ST 手台式薄膜测厚仪	CH-1-ST 手台式薄膜测厚仪产品介绍本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜或薄片）。本测厚仪执行标准GB/T6672-2001标准。
	CH-1-S 手式薄膜测厚仪	CH-1-S 手式薄膜测厚仪产品介绍测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜或薄片）。本测厚仪执行标准GB/T6672-2001标准。
	CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪	CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪产品介绍本测厚仪是用机械量法测定塑料薄膜和薄片厚度的仪器，但不适用于压花得薄膜和簿片。它参照执行国家标准GB/T6672-2001《塑料薄膜和薄片厚度的测定—机械测量法》，该国家标准修改采用国际标准ISO4593-1993《塑料—簿膜和簿片—用机械扫描法测定厚度》
	DRK107D(0-18mm) 纸与纸板测厚仪	DRK107D(0-18mm) 纸与纸板测厚仪产品介绍该设备适用于平张式样的厚度测定。符合ISO534纸和纸板单层厚度的测定，以及纸板紧度的计算方法：ISO438纸层积厚度和紧度的测定；GB/T451.3纸和纸板厚度测定方法；GB/T1983松软纸厚度的测定法
	DRK107B(0-3mm) 纸与纸板测厚仪	DRK107B(0-3mm) 纸与纸板测厚仪产品介绍该设备适用于平张式样的厚度测定。符合ISO534纸和纸板单层厚度的测定，以及纸板紧度的计算方法：ISO438纸层积厚度和紧度的测定；GB/T451.3纸和纸板厚度测定方法；GB/T1983松软纸厚度的测定法。
	TUM-P4z 纸张纸板测厚仪	TUM-P4z 纸张纸板测厚仪产品介绍 TUM-P4/P4z纸与纸板厚度仪是纸与纸板厚度测定的专用仪器
	TUM-P4 纸与纸板测厚仪	TUM-P4 纸与纸板测厚仪产品介绍 TUM-P4/P4z纸与纸板厚度仪是纸与纸板厚度测定的专用仪器
	TUM-P3z 纸张纸板测厚仪	TUM-P3z 纸张纸板测厚仪产品介绍广泛用于测量纸张、纸板和瓦楞纸板厚度的测量，其技术参数符合相关国家标准规定
	TUM-P3 纸张纸板测厚仪	TUM-P3 纸张纸板测厚仪产品介绍广泛用于测量纸张、纸板和瓦楞纸板厚度的测量，其技术参数符合相关国家标准规定
	TUM-P18z 纸张纸板测厚仪	TUM-P18z 纸张纸板测厚仪产品介绍广泛用于测量纸张、纸板和瓦楞纸板厚度的测量，其技术参数符合相关国家标准规定
	TUM-P18 纸张纸板测厚仪	TUM-P18 纸张纸板测厚仪产品介绍广泛用于测量纸张、纸板和瓦楞纸板厚度的测量，其技术参数符合相关国家标准规定
	CH-1-ST 1/1000塑料薄膜片台式测厚仪	CH-1-ST 1/1000塑料薄膜片台式测厚仪产品介绍本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片。本测厚仪执行GB6672-86国际并等效符合国际标准ISO4593-1979。
	CH-1-S 1/1000塑料薄膜薄片手式测厚仪	CH-1-S 1/1000塑料薄膜薄片手式测厚仪产品介绍本测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片。本测厚仪执行GB6672-86国际并等效符合国际标准ISO4593-1979。
	CH-1-BT 1/1000台式测厚仪	CH-1-BT 1/1000台式测厚仪产品介绍本测厚仪适用于物理实验室测量乳胶漆和橡胶，塑料薄膜，纸张等厚的的测量仪器。具有结构简单，使用方便的特点
	CH-1-B 1/1000手持式测厚仪	CH-1-B 1/1000手持式测厚仪产品介绍本测厚仪适用于物理实验室测量乳胶漆和橡胶，塑料薄膜，纸张等厚的的测量仪器。具有结构简单，使用方便的特点
	微电脑多功能电解测厚仪	微电脑多功能电解测厚仪产品介绍显示分辨率0.1MM.适合测量金属,塑料,陶瓷,玻璃及其他任何超声波的良导体的厚度.
	HQT-IA微电脑多功能电解测厚仪	HQT-IA（多层镍型）微电脑多功能电解测厚仪产品介绍测量品种：铜、镍、铬、锌、镉、银、金、多层镍各层厚度及层间电位差。测量范围：0.03μm～99.99μm 准确度：±10% 复现精度：<5% 电位测量范围：－100mv～+400mv 电位测量精度：±5% 本产品荣获国家轻工部科技成果三等奖。

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