测定原理:X射线荧光分析法
测定方法:能量色散型
测定对象:固体、液体、粉状
测定范围:11Na ~ 92U
样品形状:*大300mm直径×150mm高
X射线发生部分
检测器
样品室
真空排气系统*(轻元素高灵敏度测定用)
数据处理部分:主流计算机,彩色喷墨打印机,WindowsXP
软件
(*标记为选购件)
环境设置
苏公网安备 32050602010421号