OmniScan X3 64相控阵探伤仪沿用了已经现场验证、坚固耐用、轻盈便携的OmniScan X3外壳,其强大的聚焦功能得到了更大的晶片孔径容量的支持,可使您充分利用64晶片相控阵探头,进行128晶片孔径的TFM检测。 您可以利用这款仪器的增强性能,迎接检测较厚、衰减性较强材料的挑战,并提升您的潜力,为更广泛的应用开发新程序。
OmniScan X3相控阵探伤仪是一个完备的相控阵工具箱。 其性能强大的工具,包括全聚焦方式(TFM)成像和**可视化能力,在其高质量成像功能的支持下,可使您更加充满信心地完成检测。
声学影响图(AIM)工具可以基于您的TFM(全聚焦方式)模式、探头、设置和模拟反射体,即时提供灵敏度的可视化模型。
声学影响图(AIM)工具消除了扫查计划创建过程中的猜测因素,因为屏幕上会显示某个声波组(TFM模式)的效果图,使您看到灵敏度消失的位置,并对扫查计划进行相应的调整。
京公网安备 11010802025952号