XTL-705M精密测量显微镜
一、仪器用途：
正像型XTL-705M精密测量显微镜,操作方便和测量精度高,在机械电子,半导体IT,光纤,薄膜和材料等行业具有广泛用途,也是科研教学领域的常规装备。
仪器带有精密测量工作台,光栅数显测量系统,无限远长工作距平场物镜,六物镜转换器,粗微动调焦装置,LED同轴落射和反射照明及多种滤色镜,可作为计量检测仪器和工业金相显微镜用途。
二、仪器规格：
光学系统：
无限远光学系统,正像型
放大倍率：
50×,100×,200×,500×
广角目镜：
WF10×/22mm,带坐标线
无限远物镜：
5×,10×,20×,50×(标配)
物镜转换器：
六孔滚珠内定位,DIC插片座
双目镜筒：
倾角30º,瞳距55-75mm屈光度±5D
三目输出：
全视野同步影像输出,标准C接口镜头
三、测量系统：
测量工作台：
200*200mm,测量范围X-Y：50*50mm
旋转工作台：
Φ120mm,360º旋转,游标5´,玻璃平台Φ75mm
读数系统：
精密光栅尺,数显表,分辨率0.5µm,RS232输出
测量精度：
仪器示值误差±(1+L/25)µm,L－测量长度mm 包括测量误差和系统误差/环境温度20ºC±3ºC
四、仪器结构：
调焦系统：
同轴粗微动,滚珠导轨,升降135mm,微调2µm 测试件高度≤127mm
反射照明：
同轴落射照明,可调光LED
透射照明：
非球面聚光镜,可调光LED
输入功率：
AC90-240V/50-60Hz/20W
仪器质量：
体积300*430*390mm³,重量35kg