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产品资料

XRF荧光光谱仪 ROHS检测分析仪 无卤检测分析仪 X荧光光谱

XRF荧光光谱仪 ROHS检测分析仪 无卤检测分析仪 X荧光光谱
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  • 产品名称:XRF荧光光谱仪 ROHS检测分析仪 无卤检测分析仪 X荧光光谱
  • 产品型号:NaU1000
  • 产品展商:纳优
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简单介绍
纳优NaU1000X荧光光谱仪    产品参数    名称:X荧光光谱仪    型号:NaU1000    输入电压:220±5V/50Hz    消耗功率:≤500W    环境温度:15-30℃    环境湿度:≤80%(不结露)    主机外形(mm):长*宽*高=820*500*425    样品仓(mm):长*宽*高=430*380*105    主机重量:约55公斤
产品描述

纳优NaU1000X荧光光谱仪        XRF荧光光谱仪 ROHS检测分析仪 无卤检测分析仪 X荧光光谱
型号:NaU1000

新品(免拆分)

应用领域

RoHS指令筛选检测

技术特点

配置*新**技术样品免拆分检测模式:采用*新**技术的光路结构,*小照射光斑直径可达到1mm,辅以**的光斑定位系统,从而可以实现对复杂样品进行免拆分直接测量的要求

配置符合中国国家标准的样品混测功能:方形4mm4mm光斑设计,配合1mm光斑配合使用,能够对电路板等复杂样品实现免拆分区域扫描测量功能;从而显著节省测量时间,大幅度提高检测效率

配置On-Line实时在线技术支持系统(选配):实时解决用户在使用过程中的疑难技术问题,同时对用户操作人员进行培训

配置十二组复合滤光片:NaU1000型配置了12组复合型滤光片,是业界配置*全、数目*多的配置之一;12组滤光片的配置,极大的保证了XRF分析仪针对各种复杂样品检测的适应性

内置标准工作曲线:仪器内置了满足EU-RoHS以及CHINA-RoHS产品认证要求的基础材料的工作曲线,方便用户直接使用;并与国家指定的认证检测实验室保持一致

具备开放的工作曲线技术平台:基于开放的工作曲线技术平台,电子生产企业可以建立针对自己工厂特定物料的工作曲线,确保XRF分析仪检测结果的可靠性和准确性

分析软件操作系统分级管理:仪器系统软件配置了操作员、工程师两级操作功能菜单,便于工厂有序管理;操作员菜单简单直观,避免仪器重要参数的误修改;工程师菜单功能强大,仪器的各种参数设置权限全部开放给用户

采用经典的迷宫式辐射防护结构:采用了经典的迷宫式辐射防护结构,在保持仪器外形美观操作方便的同时,彻底杜绝低能散射X射线的泄露

可选配**技术影响权系数法多层镀层测厚功能:纳优科技**的影响权系数法多层镀层测厚技术,显著提高镀层厚度测量的准确度;*大可测量镀层数量为9层;彻底解决了常规XRF测厚方法所不能解决的塑料基体镀层厚度测量的技术难题

外观设计实用美观:符合人体工程学的仪器外形设计,操作人员测量过程方便舒适

分析方法及系统软件

分析方法配置:

基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法

► 经验系数法

► 理论α系数法

软件功能描述:

 RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的PbHgCdTCrTBrCl等元素含量的分析

► 各种金属材料、无机非金属材料(不包括聚合物材料)的材质分析(SU元素)

► 聚合物等有机材料中硫(S)~铀(U)元素的含量分析

► 分析报告的自主定制与输出打印

► 分析结果的保存、查询及统计

► On-Line实时在线技术支持与技术服务功能(选配)

► 多层镀层厚度测量功能(选配)

主要配置

美国Si-PIN电制冷半导体探测器

侧窗钼(Mo)靶管

标配12组复合滤光片

配置了Φ1mmΦ3mmΦ4mm四种准直器

具备符合中国国家标准的样品混侧功能

内置标准工作曲线

具备开放工作曲线技术平台

分析软件操作系统分级管理

产品参数

名称:X荧光光谱仪

型号:NaU1000

输入电压:220±5V/50Hz

消耗功率:≤500W

环境温度:15-30

环境湿度:≤80%(不结露)

主机外形(mm:长*宽*高=820*500*425

样品仓(mm:长*宽*高=430*380*105

主机重量:约55公斤

技术指标

元素种类:元素周期表中硫(S)~铀(U)之间元素

测量时间:

对聚合物材料,典型测量时间为300

对铜基体材料,典型测量时间为600

检出限指标(LOD):

对聚合物材料:LODPb)≤5mg/KgLODHg)≤5mg/KgLODTCr)≤5mg/KgLODTBr)≤5mg/KgLODCd)≤5mg/Kg

对铜基体材料:LODPb)≤50mg/Kg

精密度指标,以连续测量7次的标准偏差σ表征:

对聚合物(塑胶)材料:LOD(Pb)≤15mg/KgLODHg)≤15mg/KgLODTCr)≤15mg/KgLODTBr)≤15mg/KgLODCd)≤7mg/Kg

对铜基体材料:LODPb)≤50mg/Kg

准确度指标,以系统偏差δ进行表征

对聚合物材料:δPb)≤100mg/Kg; δ(Hg)≤100mg/Kg; δ(TBr)≤100mg/Kg; δ(TCr)≤100mg/Kg; δ(Cd)≤10mg/Kg

对铜基体材料:δPb)≤150mg/Kg



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