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	界达电位/粒径测量仪 ELSZ-2000	Otsuka 界达电位/粒径测量仪ELSZ-2000可以用于测量稀溶液到浓溶液的界达电位、粒径及分子量。 Otsuka 界达电位/粒径测量仪ELSZ-2000适用于界面化学、无机物、半导体、高分子、生物、药学、医学领域中，除了微粒子外，膜及平板状样品的表面科学的基础研究、应用研究。
	显微分光厚膜仪 OPTM	Otsuka 显微分光厚膜仪可以用于测量目标膜的反射率，高精度测量膜厚和光学常数。广泛应用于医药、食品、化工、半导体、材料科学以及电子行业。显微分光厚膜仪产品的主要特点：厚膜测量的主要功能集中在显微厚膜嵌入头；利用显微分光实现高精度反射率测量，分析多层薄膜厚度和光学常数（n:折射率，k:消光系数）；单点对焦测量时间小于1s；显微分光厚膜仪显微下具有较宽的测定波长范围（紫外～近红外）；初学者也可以轻松的利用解析软件进行光学常数解析；搭载macro功能，可以自定义各种测量情况。

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