测厚双晶纵波探头
双晶纵波探头，配套超声波测厚仪，用于材料厚度值的测量。铝合金外壳、不锈钢内套、有机玻璃延迟块，连接到探头线的两个接口为 C5插座。
频率 (MHz)
型号
接触面直径 (mm)
测量范围 (mm)
配套测厚仪
插座
5
5P10FG-J
14
0.75～500
CTS-400型
双C5插座
5P10FG
1～300
15P10T
13.4
1.2～200
CTS-300型
直接连到测厚仪