物性测试系统 - 北京锦正茂科技有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	材料测试霍尔效应测试仪高阻型 JH60E	本仪器系统由电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源高精度电压表、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件。
	变温霍尔效应测试高低温磁场型 JH60C	变温霍尔效应测试仪高低温磁场型0.1GS分辨实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier oncentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)等。
	电磁铁型自动化霍尔效应测试仪 JH60A	定制电磁铁型自动化霍尔效应测试系统测试系统软件：定位采集，数字温度显示，I-V，曲线及 I-R 曲线测量，得到体载，流子浓度等各类参数曲线图形。
	霍尔效应高低温磁场型测试系统 JH60C	霍尔效应实验仪高低温磁场型测试系统霍尔效应系统软件：可数字化调节磁场及电流,测试各类材料参数
	锦正茂霍尔效应测试仪 JH60C	为本仪器系统专门研制的JH10 效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。
	半导体材料霍尔效应测试系统 JH60B	内置测试矩阵转换卡； 7 1 欧姆接触套件根据不同材料的欧姆接触制作套件
	高阻型霍尔测试系统 JH60E	可测试材料:  半导体材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和铁氧体材料等
	高低温磁场型霍尔效应测试仪 JH60C	本仪器系统由：电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源高精度电压表、高斯计、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件。
	半导体电磁学研究霍尔效应测量	霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数。
	高磁场型霍尔效应测试系统 JH60B	本仪器系统由：电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源高精度电压表、高斯计、霍尔效应样品支架、标准样品、系统软件。
	实验室材料测试霍尔效应测试仪 JH60A	仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或固体材料均可。
	实验室霍尔效应测试仪-电磁铁型JH60A	该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。
	JH60A霍尔效应测试仪-电磁铁型	本仪器系统由：电磁铁、高精度电源、高斯计、高精度恒流源、高精度电压表、霍尔探头、电缆、标准样品、样品安装架、系统软件。
	锦正茂霍尔效应测试仪实验仪器 JH60C	霍尔效应测试仪—高低温磁场型
	高阻型霍尔效应测试仪材料测量	霍尔效应测试仪—高阻型
	霍尔效应测试仪—高低温磁场型 JH60C	由：电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源高精度电压表、高斯计、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件组成。
	霍尔效应测试仪高阻型测试设备 JH60E	JH10 可单独做恒流源、微伏表使用。高温霍尔效应测试仪
	霍尔效应测试仪—低温型 JH60D	JH60D霍尔效应测试系统-低温型技术指标： * 磁场：10mm 间距为 2T 30mm 间距为 1T * 样品电流：0.05uA~50mA(调节 0.1nA) * 测量电压：0.1uV~30V
	锦正茂高低温磁场型测试仪 JH60C	本仪器系统由：电磁铁、电磁铁电源、高精度恒流源高精度电压表、高斯计、霍尔效应样品支架、标准样品、高低温杜瓦，控温仪，系统软件。
	锦正茂霍尔效应测试仪—低温型 JH60D	为本仪器系统专门研制的 JH10 效应仪将恒流源，六位半微伏表及霍尔测量复杂的切换继电器——开关组装成一体，大大减化了实验的连线与操作。JH10 可单独做恒流源、微伏表使用。

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