物性测试系统 - 北京锦正茂科技有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	高温磁场加热系统 GC350-200	主要技术指标： ※ 温度范围：室温—350℃（硅片上边温度） ※ 控温精度：±1℃ ※ 温度分辨率：0.1℃ ※ 样品尺寸：8英寸（需要有固定夹具，还有10mmx10mm,20mmx20mm样品也需要考虑单独固定）
	锦正茂科技低温三维磁场探针台	可以进行真空环境中的高低温测试（10K~325K）。磁场强度在x轴上为0.75T，在Y轴上为0.75 T，在z轴上为0.4T。
	高低温探针台半导体光电测试 T8-LY100	1、真空腔体约直径260mm， 2、带有4英寸高透射观察窗，材质熔融石英 3、样品载台直径：50mm 样品载台平整度<5微米
	高校科研实验室高低温探针台 T8-LY100	可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测，用于低温环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。
	锦正茂科技定制高低温探针台 T8-LY100	高低温探针台T8-LY100能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个80K-420K高低温测试环境，
	芯片测试设备真空磁场探针台	实验测量设备磁场探针台芯片测试半导体仪器用于高低温真空环境下的芯片测试，材料测试，霍尔测试，电磁输运特性等。
	半导体材料测量探针台真空磁场	半导体材料测量探针台高低温真空磁场环境高低温真空环境下的芯片测试，材料测试，霍尔测试，电磁输运特性等。
	气氛型高温探针台铂电阻温度计 JZM-63H JZM-100H	快速实现室温-200℃环境的控温，可在真空环境下对样品进行光学，电学测试。
	实验室半导体材料测量探针台 JZM-D30	实验室半导体材料测量仪器定制高精度实验台该探针台和我司自主研发的高精度双极性恒流电源搭配使用，可以提高磁场的高稳定性。
	气氛型高温探针台测试系统 JZM-63H JZM-100H	气氛型高温探针台测试系统光学电学仪器此款探针台可在真空环境下对样品进行光学，电学测试。
	多维磁场探针台测试系统	多维磁场探针台测试系统无磁材质半导体测试样品台直径：50mm可定制；磁场分辨率：0.05 mT
	高低温真空探针台无氧铜样品台	高低温真空探针台测试系统镀金无氧铜样品台可升级加载磁场，低温防辐射屏设计。
	磁场探针台多维磁场半导体测试	磁场探针台产生多维磁场半导体测试设备三维探针台和锦正茂自主研发的高精度双极性电源相匹配，通过真正的双极性电源输出，实现了空间任意方向上的矢量场合成。
	光学电学测试高温探针台	气氛型高温探针台真空环境材料光学电学测试控温精度：±0.1k；真空度：10E-3Pa；
	实验室半导体测试仪器光学平台	该类型的探针台主要依据客户的使用情况进行设计优化。
	三维磁场探针台半导体测试实验	广泛应用于半导体工业、MEMS 、超导、电子学、铁电子学、物理学、材料学和生物医学等领域。
	气氛型高温材料光学测试探针台	快速实现室温-200℃环境的控温，可在真空环境下对样品进行光学，电学测试。
	定制高低温真空探针台测试系统	锦正茂高低温真空探针台应用于高低温真空环境下的芯片测试，材料测试，霍尔测试，电磁输运特性等。
	多维磁场半导体材料测试探针台	三维探针台和锦正茂自主研发的高精度双极性电源相匹配，通过真正的双极性电源输出，实现了空间任意方向上的矢量场合成。
	探针台快速控温光学电学测试 JZM-63H JZM-100H	可在真空环境下对样品进行光学，电学测试，测试中也可实现惰性气体的快速充放。

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