霍尔效应测试系统 - 北京锦正茂科技有限公司

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	霍尔效应测试系统低温型仪器 JH60D	霍尔效应测试系统-低温型可测试材料: 半导体材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和铁氧体材料等低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR 材料等高阻抗材料：半绝缘的 GaAs, GaN, CdTe 等
	霍尔效应测试系统-高低温磁场型 JH60C	霍尔效应测试系统-高低温磁场型可测试材料: 半导体材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和铁氧体材料等；低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR 材料等；高阻抗材料：半绝缘的 GaAs, GaN, CdTe 等
	霍尔效应测试系统-高磁场 JH60B	JH60B霍尔效应测试系统-高磁场可测试材料: 半导体材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和铁氧体材料等； 低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR 材料等；高阻抗材料：半绝缘的 GaAs, GaN, CdTe 等
	霍尔效应测试仪-电磁铁型 JH60A	霍尔效应测试仪-电磁铁型可测试材料: 半导体材料：SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe 和铁氧体材料，低阻抗材料：石墨烯、金属、透明氧化物、弱磁性半导体材料、TMR 材料，高阻抗材料：半绝缘的 GaAs, GaN, CdTe 等

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