X荧光光谱仪应用领域：
●各种电子电器产品RoHS检测
●卤素检测
●镀层厚度分析
X荧光光谱仪软件技术：
●分析元素：Na~U之间元素。
● 分析时间：60~400秒。
● 配置RoHS检测分析模型，无卤分析模型。
● 软件界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作。
● 软件拥有数据一键备份，一键还原功能，保护用户数据**。
●根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度。
● 配备开放式分析模型功能，客户建立自己的工作模型。