ADEV近红外水分仪

ADEV近红外水分仪8000IR

ADEV 8000IR 近红外水分仪技术参数详解

核心测量原理：
ADEV 8000IR 近红外水分仪基于分子光谱学的先进原理，专门针对水分子中氢-氧键对特定波长近红外光（1940nm）的强吸收特性设计。该仪器通过测量反射回的近红外光能量衰减量，逆向计算出物料中的水分含量，实现了高精度、非破坏性的水分检测。

ADEV近红外水分仪8000IR关键技术特性：

1. 测量范围与精度：
   • 测量范围：广泛覆盖0%至80%的含水率，具体范围根据被测物料特性而定。
   • 测量精度：达到业界**的0.1%至0.3%误差率，确保数据准确可靠。
2. **探测技术：
   • 采用双探测器同步探测技术，结合六波长测试原理，提升测量稳定性和精度。
3. 高分辨率与快速响应：
   • 分辨率：高达0.01%，精细捕捉水分微小变化。
   • 测量速度：仅需0.01秒即可完成一次测量，实现实时快速检测。
4. 灵活标定与滤波：
   • ADEV近红外水分仪8000IR支持快速标定、预标定功能，减少校准时间与复杂度，且无需日常重复标定。
   • 提供线性或指数滤波选项（0.1-180秒可调），有效滤除干扰信号，提升数据质量。
5. 丰富输出接口：
   • 模拟输出：两组4-20mA电流信号，轻松连接PLC或数显表，便于系统集成。
   • 通讯输出：两组RS485数字信号接口，支持远程监控与数据传输。
6. 存储与管理：
   • ADEV近红外水分仪8000IR标定档案：内置大容量存储空间，可保存50至100个标定档案，便于数据管理与追溯。
7. 环境适应性与耐用性：
   • 工作温度：适用于0-50℃的广泛温度范围，确保设备在各种环境下稳定运行。
   • 电源要求：兼容110-230V宽电压输入，全球通用。
   • 传感器构造：采用不锈钢外壳，达到IP65防护等级，防尘防水，易于清洁维护。
8. 便捷维护设计：
   • 配备清洁吹扫接口，直径6mm，支持0.5-1Bar压缩空气吹扫，有效防止传感器积尘，保持测量准确性。

ADEV 8000IR 近红外水分仪以其先进的技术原理、**的测量性能以及人性化的设计，成为工业领域中水分检测的理想选择。

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