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	多通道LoRa专用测试仪	C-1200是****台专为IoT中的LoRa系统设计的多通道LoRa专用测试仪，可符合LoRa通讯系统在全球的使用频段，单机即可完成LoRa模组与产品所需要的测试。本机提供4组双向TX/RX的RF通道，可同时在4个通道上进行不同的测项，提升在研发阶段的系统验证；在生产阶段则可提升3倍的生产效率。搭配专属软体与客製化服务，让使用者更快完成LoRa元件的验证，降低建置费用高达70%功能设计上，完整符合LoRa系统所需的测试，且系统中关键的FEI(Frequency Error Indicator)功能可以验证LoRa信号是否产生误差，以维持良好的数据传输品质；而TOA(Time On Air)功能则可用来确保LoRa信号是否正常，让LoRa产品在实际使用时不至于掉封包，这些功能以往都需客製化，在C-1200上则直接列为标配面板上的指示灯，系统状态采用萤光绿指示灯，让使用者可快速瞭解目前状态；
	ISO16750-2车辆电机电子环境条件与测试	ISO 16750-2车辆电机电子环境条件与测试
	天线特性测试	天线特性测试
	RFID Tag测试 RFID Tag测试-Insertion Loss测试法	13MHz RFID Tag测试-Insertion Loss测试法
	手机信号检测手机信号检测	手机信号检测
	攻克高共模电压	浮动差分测量（例如，高边 Vgs）非常困难或难以实现，因为频率高（快速开、关）以及示波器探头在高带宽下的共模抑制不够而导致共模电压高（例如 Vds）。共模抑制差导致测量受到共模错误而非实际差分信号的控制

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