日本得乐SM-1201测厚仪|TECLOCK得乐指针测厚规日本TECLOCK得乐指针测厚仪，得乐测厚规
TECLOCK(日本得乐) SM-1201
得乐测厚规适用范围：
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。
TECLOCK得乐测厚仪原理：
在一定的面积与一定荷重下，测量出的物件厚度.指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
得乐SM-1201测厚规技术参数： 1. 指式方式：指针式 2. 测量范围：0-10mm 3. *小读数：0.001mm 4. 测量深度：120mm 5. 体积大小：(W*D*H)87*23*105mm 6. 重量：200g
粤公网安备 44011202000374号
