X射线荧光光谱仪

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	德国 byko-test MP0R涂层测厚仪	德国 byko-test MP0R涂层测厚仪,德国 byko-test MP0R涂层测厚仪可在铁基或非铁基底材上快速而方便地测量涂层厚度。仪器能自动地识别正在实行的测量是在什么样的底材上，并且根据情况选择合适的测量模式。仪器设计为单手操作。内置的弹簧保证探头对样品表面有稳定的压力
	奥林巴斯 DELTA Element 手持式X射线荧光（XRF）分析仪	奥林巴斯 DELTA Element 手持式X射线荧光（XRF）分析仪,Olympus独具特色的牌号匹配信息（GMM）功能所提供的信息简化了核查与操作过程。用户可以将自行定制的信息分配给任何牌号，并可将实时或弹出信息作为立即分拣指示，从而提高了用户的工作效率。
	奥林巴斯 DELTA Professional 手持式XRF和XRD分析仪	奥林巴斯 DELTA Professional 手持式XRF和XRD分析仪利用新近开发的X-act Count技术的DELTA Professional分析仪配置有一个40kV袖珍X射线管、上等硅漂移探测器（SDD）、专用的过滤器，以及多光束优化功能。它是Olympus为用户提供的*具问题解决价值的手持式XRF分析仪。DELTA Professional分析仪在检测速度、检出限及可检元素的范围方面具有超级性能。
	ET-1电解测厚仪库仑电镀层测试仪	ET-1电解测厚仪库仑电镀层测试仪使用本仪器可以保障用户单位的产品质量，防止原材料的能源的浪费。利用本仪器还可以帮助用户找到适合不同要求的*佳电镀工艺，是有关成品厂及电镀厂优选的仪器。
	Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪	Ficherscoper X-RAY XDL X射线荧光光谱仪，XDAL型仪器的典型应用包括硬质镀层分析，如钻头和切割设备、合金材料分析以及电子和半导体工业中的超薄镀层测量。此外，使用XDAL型仪器，
	Ficherscoper X-RAY XDV®-SDD	Ficherscoper X-RAY XDV®-SDD，Ficherscoper X-RAY XDV®-SDD型仪器是为了满足镀层厚度测量和材料分析领域的高要求而专门设计的。在配备了新的硅漂移探测器后，特别适合于无损测量数纳米厚度的镀层以及**分析微量元素。
	Ux-210合金分析仪	Ux-210合金分析仪，Ux-210合金分析仪采用通用的一条工作曲线，就可以满足测试常规金属材料（铁材、铜材、铝合金、锌合金）元素材料分析，判定材料性质特性，是质量部门和品质部材料检验的*佳选择。
	Ux-320精密合金分析仪	Ux-320精密合金分析仪，Ux-320精密合金分析仪应用领域：用于铜合金、铁合金、铝合金、钛合金、高温合金及各种混杂合金等合金材料内元素成分分析和含量测试;Ux-320精密合金分析仪用于石油化工、精细化工、农业化工、锅炉、容器、制药、电力电站等高温高压行业等金属识别。
	Ux-700镀层测厚仪	Ux-700镀层测厚仪，Ux-700镀层测厚仪本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量，Ux-700更专业小样品测试腔的设计，带有聚焦光点的准直器，高分辨率的探测系统，众多*佳条件的选择，保证测试结果的准确性。
	华唯Ux-260贵金属分析仪	华唯Ux-260贵金属分析仪，华唯Ux-260贵金属分析仪优化的操作界面，人性化设计，应用操作轻松掌握。华唯产品的设计和软件操作，是将专业的分析仪器转化为简易的三步操作，就能报告出测试样品的含量。

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