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产品资料

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪
简单介绍
菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪强大数据处理功能.分500组存储1万个测值,特快反应速度,菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪可测铁基体和有色金属基体上的镀层和绝缘涂层
产品描述

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪

Surfix Pro S 专业级测厚仪 膜厚仪 膜厚计
品牌:菲尼克斯 型号:Surfix Pro S 产地:德国 
1.强大数据处理功能.分500组存储1万个测值,特快反应速度
2.同屏显示各统计值,配合7种测头
3.可测铁基体和有色金属基体上的镀层和绝缘涂层
4.SurfixProS膜厚计量程:0~10mm 精度:0.1μm,见测头参数
5.带RS-232接口,背景光 .可连小打印机 
6.探头需另选购

菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪技术参数

型号 Surfix S膜厚仪
探头连接方式 插拔式连线探头
探头选择 多种探头可选
测量范围 根据探头而定,*大可达10mm
测量精度 ±(1µm+ 0.7%读数)
*高分辨率 0.1µm
统计功能 平均值、标准偏差、*大*小值(*高到10000个读数)
通讯功能 可接PC机或专用打印机(另配红外适配器)
*小测量面积 5X5mm
*小测量厚度 铁磁性基体0.2mm 非铁磁性基体0.05mm
尺寸、重 量(不含探头) 137mmX66mmX23mm(不含探头)、重225g
符合标准 DIN、ISO、ASTM、BS
菲尼克斯Surfix Pro S膜厚仪可选探头:
探头型号 用途 测量范围
FN1.5 磁感应与涡流法两用 0~1500µm
FN0.2  磁感应与涡流法两用  0~200µm
FN3.5 磁感应与涡流法两用 0~3500µm
F10 磁感应法 0~10000

 

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