日本日置 FT3470-52 磁场测试仪
日本日置 FT3470-52 磁场测试仪的校正可在日本国内进行 JIS C 1910推荐使用进行过校正,可溯源的测试仪来进行测量。 HIOKI拥有NIST(美国国家标准与技术研究院)的可溯源的校正设备,可在国内进行校正。根据客户的要求,可再磁场测试仪购买时或购买后进行校正时,有偿提供检查成绩表、校正证明书、可溯源体系图。关于校正详情请向*近的HIOKI营业所垂询。
可分别显示3轴(X,Y,Z)磁场各自的值 电流流过的物体周围产生的空间称为“磁场”。磁场存在方向,根据方向,测量值不同。需要测量3轴全部。FT3470-50系列能够同时测量3轴并求出合成值(R),从而做到准确的测量。
可选的磁通密度单位 根据标准和规定的不同,支持显示T(特斯拉)、A/m (安培/米)、G (高斯)之类不同的磁通密度的单位。
磁通密度的合成有效值电平、暴露电平的模拟输出功能(仅FT3470-51,FT3470-52) 与存储记录仪或数据采集仪连接,可记录磁通密度的有效值。便于长期的观测。输出率为0.1 mV/显示值(以磁通密度单位T为基准)
磁通密度(T)的X,Y,Z各轴的波形输出功能(**FT3470-51,FT3470-52) 连接示波器或存储记录仪,可观测磁场的波形。输出率为0.1 mV/显示值(以磁通密度单位T为基准)
日本日置 FT3470-52 磁场测试仪特点
非常适用于3轴的磁通密度测量 适用于以ICNIRP2010准则为基础的评估试验 符合IEC62110/IEEE 644以及EN62233标准 标配符合IEC/EN62233的100cm2的磁场传感器 显示单位可选(T,A/m,G) 操作简单,轻松测量 标配PC应用软件 可以用于无线充电评价系统TS2400
日本日置 FT3470-52 磁场测试仪技术参数
[X/Y/Z轴]有效测量范围:2.000 μT~2.000 mT,4档量程 精度:±3.5% rdg. ±0.5% f.s. [R轴]有效测量范围:3.464 μT~3.464 mT, 4档量程 精度:±3.5% rdg. ±0.5% f.s. [有效测量频率范围] 10Hz-400kHz模式时: 50Hz~100kHz
10Hz-2kHz模式时: 50Hz~1kHz 2kHz-400kHz模式时: 5kHz~100kHz
100 cm2 磁场传感器 (标配)
日本日置 FT3470-52 磁场测试仪选件 延长线9758,1.5m长,用于传感器和仪器间。FT3470-52标配。
输出线9759,1.5m长,输出端带3BNC连接器,FT3470-52标配。 AC 转换器 9445-02,100~240V AC,12 V DC/ 2.5 A 输出
磁场探测仪 FT3470-52(带 GP-IP 接口)
粤公网安备 44030402001250号