TT240氧化膜测厚仪是一种手持式测量仪,TT240氧化膜测厚仪能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。TT240氧化膜测厚仪可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。TT240氧化膜测厚仪是材料保护专业必备的仪器。TT240氧化膜测厚仪符合以下标准: GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
TT240氧化膜测厚仪采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层) 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE); 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL); 设有五个统计量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV); 可进行零点校准和二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正; 具有存贮功能:可存贮350 个测量值; 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量; 可设置限界:对限界外的测量值能自动报警; 具有打印:可打印测量值、统计值; 具有与PC 机通讯的功能:可将测量值、统计值传输至PC 机,以便对数据进行进一步处理; 具有电源欠压指示功能; 操作过程有蜂鸣声提示; 具有错误提示功能; 具有自动关机功能
测头类型
N
测量原理
电涡流
测量范围
0-1250um/0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力
1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式
分体式导线连接
示值误差
一点校准(um)
±[3%H+1.5]
两点校准(um)
±[(1%~3%)H+1.5]
测量条件
*小曲率半径(mm)
凸3 凹10
基体*小面积的直径(mm)
ф5
*小临界厚度(mm)
0.3
温湿度
0~40℃ 20%RH~90%RH
统计功能
平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、 测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)
工作方式
直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式
连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)
上下限设置
无
存储能力
350 个测量值
打印/连接计算机
可选配打印机/能连接电脑
关机方式
手动和自动
电源
二节AA型碱性电池
外形尺寸
152×47×35mm
重量
370g
主机 标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um) 铝基体 二节AA型(5号)1.5V电池 仪器保护套
粤公网安备 44030402001250号