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产品资料

X射线衍射仪

X射线衍射仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:X射线衍射仪
  • 产品型号:Y-2000
  • 产品展商:其他品牌
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
X射线衍射仪是利用衍射原理,**测定物质的晶体结构,织构及应力,**的进行物相分析,定性分析,定量分析.广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域。
产品描述
 

仪器的构成

  1.高稳定性的X射线发生器

  2.测角仪(卧式或立式)

  3X射线强度测量系统

  4.操作分析系统及应用分析软件包(Windows版本)

  二.主要技术规格

  1.高稳定性的X射线发生器

    1.1 额定功率:3KW

    1.2 X射线管电压:1060KV 1KV/step

    1.3 X射线管电流:580mA 1mA/step

    1.4 稳定度:≤±0.01%(电源电压浮动10%

    1.5 管电压和管电流:手动设定或程序控制

    1.6 高压电缆:100KV介电强度,长度2米。

    1.7 保护及报警装置

     1.7.1 KV过高,KV过低保护

     1.7.2 mA过高,mA过低保护

     1.7.3 X射线管功率超限保护:0.8KW1.2KW1.6KW2KW四档

     1.7.4 整机过流保护:30A

     1.7.5 冷却水断水保护:流量保护,超温保护

     1.7.6 防辐射保护:带窗口连锁,在防辐射外罩外射线剂量低于2.5usv/小时

  2. X射线衍射管

   基本配置:Cu靶衍射管(国产)1只。2.0KW1×10mm焦点。

  3. 测角仪

   3.1测角仪方式: 卧式,水平扫描 立式,垂直扫描

   3.2扫描半径: 185mm 185mm

   3.3扫描范围(2θ):0o -164o -60 o-160o

   3.4扫描速度范围:0.6o-762o/min,*高转速100o/min

   3.5扫描方式:θ、2θ单动,θ-2θ联动;连续或步进扫描

   3.6*小步进角度:0.001°

   3.7 2θ角重复精度:≤0.001°

   3.8测量精度:≤0.005°

  4.探测器

   4.1 类型:闪烁计数器(带向置放大器)

   4.2 晶体:NaI

   4.3 *大线性计数器 500,000CPS

   4.4 噪声<10CPS

  5X射线强度测量系统

   5.1 能谱分辨率:≤25%PC);≤60%SC

   5.2 计数方式:微分或积分方式,自动PHA,死时间校正

  Windows操作系统控制软件及应用软件

  Y-2000衍射仪软件由两部分组成,数据采用集处理软件包基本能满足一般分析的要求;应用软件数据处理软件包用来对衍射数据特殊处理。

  Y-2000衍射数据处理软件包

  数据采集、数据处理软件包含如下功能:

  X射线衍射仪进行自动控制,包括X射线发生器、测角仪转动、测角仪自动对零、记录控制单元等。

  衍射数据进行采集,形成ASC码数据文件保存

  数据文件进行处理包括:自动寻峰、手动寻峰、积分强度、峰高、重心、背景扣除、平滑、峰形放大、多重绘图、半高宽计算、谱图输出打印。

  应用软件数据处理软件包

  识别国内外不同生产厂家衍射仪生成的衍射数据文件,对衍射数据进行***的处理。

  其余功能:包括线性分析、晶胞测定、二类应力计算、衍射线条指标化等;

  数据处理结果打印:所有的数据处理后都可以打印输出,打印前可以进行预览和修改,如:将峰形局部再开窗口放大、弱小峰拉高、添加文本标注、选择打印格式等。

  物相定性分析:使用国际通用数据库1-50组生成检索数据库。

  基本数据处理功能: 

  寻峰:自动寻峰、手动寻峰。峰位置可以按:d值、2θ角度、强度、半高宽、峰标记选择标注方式显示和打印;

  衍射数据校准:使用标准衍射数据卡片,对测量的原始数据进行偏听偏信差校正,消除仪器测量误差;

  背景扣除:有自动扣除和手动扣除两种扣除背景方式;

  积分面积计算:可以确定起始、终止角度计算、也可以用拟合法自动计算;

  半高宽和晶粒度计算:用拟合法计算峰的半峰宽(真实)及晶粒度;

  Kα1、α2剥离:扣除背景后自动剔除β线,将Kα2剥离干净,对只含有Kα1的数据文件进行处理,保存,以便进行其他分析;

  平滑:设定平滑点数、选择平滑方式,包括全谱平滑、仅平滑背景等。

  谱图修正:通过鼠标的左右键对谱图多余的峰删除、对丢失的峰添加;

  多重绘图:可以同时打开若干个数据文件,分别成检索数据库,可以从卡片库中选择卡片号建立自己的检索数据库。数据处理同时,用数据文件进行检索。选择以全部谱图、多条峰、单峰方式进行检索。检索结果可以进行人工干预,如输入元素信息、剔除相似而不存在物相、多次检索;检索结果叠加、棒图比较、可以选择的标明分子式、物质名称、HKL等参数,同时可以将检索结果打印输出

  定量分析:采用无标样定量法,对物质进行定量分析,测定物质含量。

  综合稳定度:≤0.5%

  外形尺寸:1250×940×1790

该仪器主要用于研究物质内部微观结构。如:单晶定向、检验缺陷、物质定性、测定点阵参数、测定残余应力等。

X射线发生器:

  管电压:1060KV由单片机自动控制(1KV/step)

  管电流:580mA由单片机自动控制(1mA/step)

  管电压、管电流稳定度≤0.3

  额定输出功率:3KW

  有无压、无流、过压、过流、过功率、无水、X光管超温保护。

冷却装置:

  自带制冷系统,无需外接水循环,并自动控制水温及显示X光管温度。

防护罩:

  外射线计量不大于2.5μSv/h

X光管:

  额定功率2KW(铜靶)

定时:

  单片机自动定时,定时时间任意选择。
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