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![四探针电阻率测试仪 :JH-WSP-11](http://y1.yzimgs.com/uploads/345003/2015041717260315.jpg)
四探针电阻率测试仪/四探针电阻率仪/四探针电阻率测定仪/电阻率测试仪 型号:JH-WSP-11一、 测试步骤1、连接好测试探头电缆与主机,接上电源。2、仪器显示开机界面“-J-H-”,等待几秒钟进入测试界面。
![IEC60598测试探棒 CX-152](http://y2.yzimgs.com/uploads/312390/2013122222373643.jpg)
IEC60598测试探棒弹簧冲击锤,标准试验指针销、试验弯指、UL试验指、试验指甲、试验直指、试验棒、探针,球压试验仪、爬电距离测试卡
![MODEL 7165A测试探针 MODEL 7165A](http://y2.yzimgs.com/uploads/419519/2014040813424927.jpg)
本目录是上海苏特电气有限公司为您精选的MODEL 7165A测试探针MODEL 7165A测试探针TQSB系列 YD系列 YDJ系列试验变的种类有很多,不同的应用也会有细微的差别,本公司为您提供全方位的解决方案。
![D型带1N推力探棒](http://y1.yzimgs.com/uploads/508285/2023610-152233685.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5rex5Zyz5biC6YCa5rqQ5Luq5Zmo5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/SouthEast)
IP40试验探针;符合IEC61032:1997图4试具D、IEC60529:2001IP4、GB4208-2008IP4标准型号要求,采用304不锈钢和尼龙材质定制,探棒直径1mm,手柄自带1N推力测试功能结构特点。D型试验探棒;适用于IP防护等级测试的特征数字4及附加字母D项目测试。
![优利德测试探头UT-C08 UT-C08](http://y2.yzimgs.com/uploads/490686/2015112514373263.jpg)
优利德测试探头UT-C08性能说明:双重绝缘,带笔尖护套,直形探针;表棒长99mm,探针长18mm
![高温导电陶瓷电阻率测试仪 FT-351](http://y3.yzimgs.com/uploads/427378/2020619-104447934.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5a6B5rOi55Ge5p-v5Lyf5Lia5Luq5Zmo5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/SouthEast)
采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具,满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求,通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具高温导电陶瓷电阻率测试仪
![IP30探测针量规](http://y3.yzimgs.com/uploads/508285/2023614-1530875.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5rex5Zyz5biC6YCa5rqQ5Luq5Zmo5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/SouthEast)
IP30试验探针;符合IEC61032:1997图3试具C、IEC60529:2001IP3、GB4208-2008IP3标准型号要求,采用304不锈钢和尼龙材质定制,做工精密、探棒直径2.5mm结构特点。C型试验探棒;适用于IP防护等级测试的特征数字3及附加字母C项目测试。
![四川成都供应日本菊水(KIKUSUI)低电压测试探针LP01-TOS LP01-TOS](http://y2.yzimgs.com/uploads/492354/2016118-145757323.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5oiQ6YO96KW_6YeO6LS45piT5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/SouthEast)
四川成都供应日本菊水(KIKUSUI)低电压测试探针LP01-TOS特点:1. **相关试验设备用选购件2. 接地导通测试仪(TOS6200)用低电压测试探针(Max.AC30A/约2m)四川成都供应日本菊水(KIKUSUI)低电压测试探针LP01-TOS
![圆顶测试探针](http://y3.yzimgs.com/uploads/429421/2013090617595258.jpg)
圆顶测试探针 符合以下标准IEC 60950 / 1991 § 6.2.2 Fig. 16,VDE 0804 Part 100 / 12.91 § 4.3 Fig. 3
![高温四探针电阻率测定仪 FT-351](http://y2.yzimgs.com/uploads/427378/202073-95957829.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5a6B5rOi55Ge5p-v5Lyf5Lia5Luq5Zmo5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/SouthEast)
高温四探针电阻率测试系统 采用由四探针双电测量方法测试方阻和电阻率系统与高温试验箱结合配置专用的高温测试探针治具,满足半导体材料因温度变化对电阻值变化的测量要求,通过先进的测控软件可以显示出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。